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價格:電議
所在地:上海
型號:AFM
更新時間:2021-01-26
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公司地址:上海市浦東新區(qū)芳春路400號1幢3層
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Nators(先生)
原子力顯微鏡
Nators自主開發(fā)SEM兼容的原子力顯微鏡系統(tǒng)可提供在SEM或FIB內進行原位三維形貌掃描和納米壓痕功能。該系統(tǒng)可兼容大部分SEM或FIB系統(tǒng),包括桌面型SEM。
原子力顯微鏡產品特點:
· 納米級三維形貌掃描成像分辨率
· 亞納牛力納米壓痕分辨率
· 結構緊湊、優(yōu)異的SEM/FIB兼容性
· 可根據用戶具體需求提供定制化解決方案
原子力顯微鏡產品應用:
· AFM-SEM綜合成像分析(結合AFM功能與SEM分析技術,例如EDX、EBSD)
· 納米材料力學分析
規(guī)格參數
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概述 |
技術參數 |
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樣品運動行程 |
10 mm |
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樣品定位分辨率 |
100 nm |
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掃描行程 |
5 um |
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掃描器運動分辨率 |
0.1 nm |
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力感應范圍 |
+/- 100 uN |
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力感應分辨率 |
0.5 nN |
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