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AFM 原子力顯微鏡

上海內諾科技有限公司
會員指數: 企業(yè)認證:

價格:電議

所在地:上海

型號:AFM

更新時間:2021-01-26

瀏覽次數:891

公司地址:上海市浦東新區(qū)芳春路400號1幢3層

Nators(先生)  

產品簡介

Nators自主開發(fā)SEM兼容的原子力顯微鏡系統(tǒng)可提供在SEM或FIB內進行原位三維形貌掃描和納米壓痕功能。該系統(tǒng)可兼容大部分SEM或FIB系統(tǒng),包括桌面型SEM。

公司簡介

上海內諾科技有限公司位于上海浦東張江高科,是一家專業(yè)從事研發(fā)、銷售運動定位平臺,納米科學儀器的高科技企業(yè)。 公司研發(fā)團隊在運動定位,微納自動化系統(tǒng)集成方面具有十多年的研發(fā)和實踐經驗,專注于光學、顯微,半導體、加工等領域,為用戶提供專業(yè)運動定位系列產品及技術服務和解決方案。
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產品說明

原子力顯微鏡

Nators自主開發(fā)SEM兼容的原子力顯微鏡系統(tǒng)可提供在SEM或FIB內進行原位三維形貌掃描和納米壓痕功能。該系統(tǒng)可兼容大部分SEM或FIB系統(tǒng),包括桌面型SEM。

原子力顯微鏡產品特點:

· 納米級三維形貌掃描成像分辨率

· 亞納牛力納米壓痕分辨率

· 結構緊湊、優(yōu)異的SEM/FIB兼容性

· 可根據用戶具體需求提供定制化解決方案

 

原子力顯微鏡產品應用:

· AFM-SEM綜合成像分析(結合AFM功能與SEM分析技術,例如EDX、EBSD)

· 納米材料力學分析

 

規(guī)格參數

概述

技術參數

樣品運動行程

10 mm

樣品定位分辨率

100 nm

掃描行程

5 um

掃描器運動分辨率

0.1 nm

力感應范圍

+/- 100 uN

力感應分辨率

0.5 nN

 


本頁產品地址:http://www.lgsztm.com/sell/show-9058080.html
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