KoreSurfaceSeerI是一款高靈敏度的飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS，用于絕緣、導電表面的成像分析與化學成分分析。SurfaceSeerI是研究表面化學的理想選擇，適用于研發和工業質量控制應用。

那諾中國有限公司是一家高科技技術服務公司，專注于為大中華區域（包括中國大陸、香港、澳門和臺灣）的高校、科研院所、企業研發與生產提供基于飛行時間質譜儀的高性能科學儀器。 我們可以提供高性價比的定制化儀器 ，因為我們能夠重復使用現有的設計模塊，這些來源于我們龐大的、 有據可查的后臺目錄 中。這些預先存在的機械信息，結合所需要的任何一次性工程，使我們能夠根據客戶的具體要求生產出價格合理的儀器。 我們的飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS），不僅適用于實驗室實驗，也適用于現場實時分析。我們的儀器在環境科學、工業和生產、生物科學、材料科學、半導體、電子等行業都有廣泛的應用。

Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度的飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS，具有高通量分析功能，可用于絕緣、導電表面的成像分析與化學成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化學的理想選擇，適用于 研發和工業質量控制應用。

飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS是非常靈敏的表面分析手段。其憑借質譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能，廣泛應用于醫學、細胞學、地質礦物學、半導體、微電子、物理學、材料化學、納米科學、礦物學、生命科學等領域。

Kore SurfaceSeer I 是一款高靈敏度飛行時間二次離子質譜儀TOF-SIMS，用于絕緣和導電材料表面的成像和化學測繪。該儀器是研究表面化學的理想工具，在研發或工業質量控制應用中同樣適用。 SurfaceSeer I 使用與 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技術，但配備了高亮度、高空 間分辨率的 25kV 液態金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源。LMIG 的探頭尺寸≤ 0.5μm，可實現高分析空間分辨率。全自動計算機控制，允許在質譜采集期間掃描離子槍，從而可以收集到化學圖像或圖譜。另外還提供了一個二次電子探測器（SED），用 于調諧初級電子束和 SED 圖像捕獲。

帶有12.7μm重復單元的銅格柵

SurfaceSeer I 儀器特點：

• 配備25KV液態金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源，檢測能力更強，質量分辨率更高；

• 具備表面成像和深度剖析功能；

• 提供的SIMS材料譜庫包含上千種材料的質譜數據，可識別未知的化合物和材料；

• 可同時分析所有元素及有機物，可消除有機物和元素干擾，使譜圖更清晰，檢測限更低，能更有效地分析材料樣品。

• 專用數據處理軟件允許分析數據和樣品的化學構成信息進行全面的交互提取，其所有儲存的數據都能用于溯源性分析。

• 表面分析靈敏度高達 1x10⁹ atoms/cm²

SurfaceSeer I 應用領域:

• 表面涂層和處理

• 電子元件和半導體

• 電極與傳感器

• 潤滑劑

• 催化劑

• 粘合劑

• 薄膜等包裝材料

• 腐蝕研究

• 大學教學與科研

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