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價格：電議
所在地：陜西
型號：
更新時間：2021-04-06
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公司地址：陜西省西安市高新區(qū)丈八街辦唐延南路十一號
張琳(女士)
測試服務(wù):
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高分辨透射電子顯微鏡（TEM） |
JEM-3010 |
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掃描電鏡 SEM |
zeiss SIGMA 500 |
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JEM-6700F |
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FEI Quanta-450-FEG+X-MAX50 |
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S3400N |
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原子力顯微鏡(AFM) |
Veece nanoscope Ⅲ A型 |
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超聲波掃描（SAM） |
So |
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X射線衍射儀 XRD |
XRD-7000 |
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X'Pert Pro |
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日本理學(xué)Dmax-Rapid II |
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X射線光電子能譜儀(XPS） |
AXIS ULTRA |
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X射線檢測（X-Ray） |
Phoenix MICROME|X 180T |
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激光拉曼光譜儀 |
Renishaw inVia Reflex |
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傅立葉變換紅外光譜儀 |
JOEL FTIR8400 |
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穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀 |
FLS980 |
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PL熒光光譜量測系統(tǒng) |
S301-058/059 |
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PL映射系統(tǒng)PL MAPPING SYSTEM |
Platom RPM blue |
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靜電衰減測試儀 |
JCI155v6 |
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介電阻抗譜測試 |
Novoco |
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步入式現(xiàn)場環(huán)境模擬系統(tǒng)(恒溫恒濕環(huán)境) |
X-73 |
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高低溫沖擊試驗箱 |
ETH80-40A |
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電阻率測試儀 |
NIPPON |
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膜厚測試儀 |
橢偏儀 |
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C-V測試 |
420S |
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B1500 |
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探針臺 |
EB12/PSM1000 |
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EPS 150TRIAX |
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激光共聚焦 |
OLS4100 |
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綜合物性測量 |
VersaLab |
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ECV |
EP-RE-0051 |
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顆粒儀(自動光學(xué)檢查系統(tǒng)) |
nSpec |
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可見分光光度計 |
CARY 5000 |
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紫外可見分光光度計 |
Lambda950 |
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臺階儀 |
布魯克 Dektak XT |
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A-Step膜厚段差測量儀 |
Dektak150 |
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EL量測試系統(tǒng) |
ELV1-MP3 |
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金相顯微鏡 |
BX51M |
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HALL載流子濃度測試儀 |
HL5500PC |
免責(zé)聲明：以上所展示的[ 半導(dǎo)體表征測試服務(wù)]信息由會員[西安千月電子科技有限公司]自行提供，內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會員負(fù)責(zé)。
