X熒光射線膜厚與元素(RoHS)分析儀XRF-2000(R)系列H-TypeL-TypePCB-Type介紹：X熒光射線膜厚分析儀是利用XRF原理來分析測量金屬厚度

我司是精密測試儀器代理商，為在中國獨家代理美國Thermo-Electron X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細表面積或超薄鍍層的測量。以下我們公司其他主要產品： 　　新加坡QTEST CIMS 特性阻抗測試儀 　　韓國Micro Pioneer XRF-2000系列測厚儀 　　美國Solar Metrology 太陽能薄膜電池厚度測量儀 　　日本KYORITSU WAK-水質離子測試包 　　美國WALCHEM（禾威）電鍍藥液自動添加系統 　　美國OMEGA 600SMD離子污染測試儀 　　美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀 　　美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品 　　英國JENWAY分光光度計 　　美國Kocour庫侖測厚儀、侯氏槽、陰/陽極片、離心機等 　　德國SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品 　　美國INNOV-X伊諾斯RoHS分析儀(手提式:XRF 6500，臺式:Ray-tek1800) 　　美國ECI電鍍藥液分析系統 　　美國DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA溫濕度記錄儀 　　日本SHIMADZU(島津)分光光度計、X射線熒光分析儀 　　日本IWAKI工業用泵 　　韓國K-Mac ST4080-OSP 光學測厚儀 　　美國SPELLMA******??電源供應器 　　日本KETT磁感/渦流涂層測試儀 　　俄羅斯INTRON PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測厚儀 　　美國RPS可焊性測試儀 　　美國UNITRON工業用顯微鏡系統及表面光滑度測試儀 　　美國EXTECH多用途萬用表 　　美國CECO板材厚度測試儀、銅箔剝離強度儀 　　一直致力于為PCB廠商，電鍍行業，科研機構，半導體生產等電子行業提供高性能的儀器和優質的售后服務。【shanghai yilang yiqi youxiangongsi】

X熒光射線膜厚與元素(RoHS)分析儀 XRF-2000 (R)系列 
H-Type
L-Type
PCB-Type
  
 介紹：

   X熒光射線膜厚分析儀是利用XRF原理來分析測量金屬厚度及物質成分，可用于材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。XRF-2000系列分為以下三種：

1. H-Type: 密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。

2. L-Type: 密閉式樣品室，方便測量 樣品較小，高度約30mm以下。

3. PCB-Type: 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。

4. R-Type: 結合膜厚量測，元素成份及含量分析功能(RoHS分析儀)。
 
應用:

  測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度，其可偵測元素的范圍：Ti(22)~U(92)。RoHS: Al(13)選配。
 
行業:

  五金類、螺絲類、PCB類、 連接器端子類行業、電鍍類、金飾相關行業等。
 
特色:

 非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。

 可測量高達六層的鍍層(五層厚度+底材)并可同時分析多種元素。

 兼容Microsoft 微軟作業系統之測量軟件，操作方便，直接可用Office軟件編輯報告。

 標準配備 : 溶液分析軟件，可以分析電鍍液成份與含量。

 準直器口徑多種選擇，可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。

 移動方式： 全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差。

 雷射 自動對焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

 獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。

 元素成份與含量分析1ppm偵測極限，兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物質檢測分析。(選配)

 標準ROI軟件搭配內建多種專業報告格式，亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告。

 光學20X影像放大功能，更能精確對位。

 單位選擇：mils、uin、mm、um。

 優于美制儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的優勢。

 儀器正常使用保固期一年，強大的專業技術支援及良好的售后服務。

 測試方法符合ISO 3497、ASTM B568及DIN 50987。 
 

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