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FA FA失效分析探針臺

深圳市森美協(xié)爾科技有限公司
會員指數(shù): 企業(yè)認(rèn)證:

價格:電議

所在地:廣東

型號:FA

更新時間:2023-03-30

瀏覽次數(shù):1009

公司地址:深圳市寶安區(qū)西鄉(xiāng)恒豐工業(yè)城C1棟3樓

向先生(先生) 經(jīng)理 

產(chǎn)品簡介

特點 失效分析實驗室專用 大手柄驅(qū)動,操作舒適,無回程差設(shè)計,定位準(zhǔn)確 可做LC液晶熱點偵測 激光zui小可加工精度1*1um 激光可選擇性去除特定材料而不損傷下層 芯片內(nèi)部線路/電/PAD測試 適用于IC/面板內(nèi)部線路修改/去層 射頻特性器件失效分析 可升級用于12英寸以內(nèi)樣品測試 材料/器件的IV/CV特性測試及失效分

公司簡介

深圳市森美協(xié)爾科技有限公司(SEMISHARE)致力半導(dǎo)體技術(shù)的共享事業(yè),專注于促進(jìn)中國半導(dǎo)體行業(yè)的快速成長,目標(biāo)成為半導(dǎo)體行業(yè)領(lǐng)先的total solution供應(yīng)商。目前設(shè)有半導(dǎo)體儀器營銷事業(yè)部和半導(dǎo)體設(shè)備制造工廠。
SEMISHARE半導(dǎo)體儀器營銷事業(yè)部代理的設(shè)備包括半導(dǎo)體檢測設(shè)備:SEMISHARE品牌探針臺和激光修復(fù)儀,I-V/C-V參數(shù)測試儀,網(wǎng)絡(luò)分析儀,激光系統(tǒng),金相顯微鏡,EMMI微光顯微鏡,X射線,C-SAM超聲波探測,電子顯微鏡 。晶圓工藝設(shè)備:晶圓鍵合,去膠,沉積,等離子刻蝕,擴(kuò)散,氧化爐,勻膠機(jī),光刻機(jī),磁控濺射機(jī)臺,電子束蒸渡機(jī)。
SEMISHARE半導(dǎo)體儀器營銷事業(yè)部立足中國深圳,香港,北京,上海,西安等城市為全中國半導(dǎo)體行業(yè)提供全球最先進(jìn)的半導(dǎo)體檢測和工藝設(shè)備營銷與技術(shù)集成服務(wù),助力先進(jìn)技術(shù)的研發(fā)。
SEMISHARE半導(dǎo)體設(shè)備制造工廠總資產(chǎn)達(dá)5000余萬元,廠房面積約5000平方米,現(xiàn)有員工500余人,其中專業(yè)技術(shù)人員100余人,公司擁有先進(jìn)的生產(chǎn)工藝及品控檢測,主要設(shè)備有:壓鑄機(jī)、精雕機(jī)、CNC高光機(jī)、光纖激光鐳射機(jī)、CD紋機(jī)、批字機(jī)、各種噸位沖床、線割機(jī)、CNC加工中心、火花機(jī)、各噸位塑膠注塑機(jī)、耐磨測試儀、人工汗測試儀等。2009年,我們開始研發(fā)制造SEMISHARE品牌探針臺和激光修復(fù)設(shè)備,激光器獲得國家專利授權(quán)。
SEMISHARE擁有熱誠,專業(yè)的員工和遍及中國的營銷及服務(wù)網(wǎng)絡(luò),快速響應(yīng)客戶需求,提供客戶化的產(chǎn)品和端到端的服務(wù),助力客戶的成功。
目前,SEMISHARE的產(chǎn)品和解決方案已經(jīng)應(yīng)用于中國100多家客戶,服務(wù)中國半導(dǎo)體研發(fā)機(jī)構(gòu)前50強(qiáng)中的40多家。
展開

產(chǎn)品說明

失效分析探針臺
規(guī)格 FA-8 FA-8-SC
外形 960mm*850mm*1500mm 880mm*860mm*1550mm
重量 260KG 280KG
電力需求 220VC,50~60Hz
樣品臺 尺寸 8英寸,可360度旋轉(zhuǎn)
行程 X-Y行程8*8英寸
移動精度 1um
樣品固定方式 真空吸附 真空吸附
溫控范圍 - 80~200
快速拉出 -
特殊運用 電學(xué)懸空,可作為背電使用
針座平臺 規(guī)格 U型平臺,多可放置10個針座 O型平臺,多可放置12個針座
行程&調(diào)節(jié)方式 平臺可以快速升降,行程 6mm并帶自動鎖定功能;可以上下微調(diào),行程25mm,升降精度1um
光學(xué)特性 顯微鏡行程 X-Y軸行程2英寸*2英寸,Z軸:50.8mm X-Y軸行程1英寸*1英寸,Z軸:50.8mm
放大倍數(shù) 20~4000X
鏡頭切換時操作 快速傾仰 氣動升降
CCD像素 50W(模擬)/200W(數(shù)字)/500W(數(shù)字) 50W(模擬)/200W(數(shù)字)/500W(數(shù)字)
激光特性 波段 波長可選擇1064/532/355/266nm波段
功率 輸出功率2.2mJ/pulse
微加工能力 可加工材質(zhì):Cr/Al/ITO/Ni/TFT/RGB/Poly Silicon/Mo/SiN/CF內(nèi)雜質(zhì)等 
精度 zui小可加工精度1*1um(配置100X鏡頭時)
冷卻方式 可選擇風(fēng)冷激光或水冷激光
點針規(guī)格 X-Y-Z行程 12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm
機(jī)械精度 2微米/0.7微米/0.1微米
漏電精度 10pA/100fA     (配置屏蔽箱時)
接口形式 香蕉頭/鱷魚夾/同軸/叁軸接口
可選附件 卡盤快速拉出裝置 卡盤快速拉出裝置
液晶熱點偵測套裝 液晶熱點偵測套裝
高壓/大電流測試套裝 高壓/大電流測試套裝
加熱臺 -
屏蔽箱 屏蔽箱
轉(zhuǎn)接頭 轉(zhuǎn)接頭
防震臺 防震臺
鍍金卡盤 鍍金卡盤
同軸叁軸卡盤 同軸叁軸卡盤
樣品臺快速升降,微調(diào)升降裝置選件 -
光強(qiáng)/波長測試選件 光強(qiáng)/波長測試選件
射頻測試附件 射頻測試附件
有源探頭 有源探頭
低電流/電容測試 低電流/電容測試
光纖夾具耦合測試選件 光纖夾具耦合測試選件
封裝器件夾具 封裝器件夾具
PCB/封裝夾具測試選件 PCB/封裝夾具測試選件
特殊定制 特殊定制
應(yīng)用方向 常溫和高低溫環(huán)境下的芯片失效分析




特點
失效分析實驗室專用 大手柄驅(qū)動,操作舒適,無回程差設(shè)計,定位準(zhǔn)確
可做LC液晶熱點偵測 激光zui小可加工精度1*1um
激光可選擇性去除特定材料而不損傷下層 芯片內(nèi)部線路//PAD測試
適用于IC/面板內(nèi)部線路修改/去層 射頻特性器件失效分析
可升級用于12英寸以內(nèi)樣品測試 材料/器件的IV/CV特性測試及失效分析

本頁產(chǎn)品地址:http://www.lgsztm.com/sell/show-8173317.html
免責(zé)聲明:以上所展示的[FA FA失效分析探針臺]信息由會員[深圳市森美協(xié)爾科技有限公司]自行提供,內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會員負(fù)責(zé)。
[給覽網(wǎng)]對此不承擔(dān)任何責(zé)任。
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