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金相顯微鏡失效分析樣品外觀形貌檢測

儀準科技（北京）有限公司

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企業認證：

價格：電議

所在地：北京

型號：

更新時間：2023-11-10

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公司地址：北京市中關村軟件園

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產品簡介

金相顯微鏡，失效分析，樣品外觀形貌檢測主要應用于制備樣片的金相顯微分析及各種缺陷的查找

IC失效分析 Decap，X-RAY，IV，EMMI，FIB，SEM，EDX，Probe，OM，RIE

專業從事電子產品分析測試設備研發、生產、銷售，以及國外**設備代理,探針臺probe 開封機decap 微光顯微鏡emmi 紅外顯微鏡 iv自動曲線量測儀失效分析可靠性測試FIB,切割研磨機rie，電子顯微鏡sem等

展開

金相顯微鏡，失效分析，樣品外觀形貌檢測，

主要用途

樣品外觀、形貌檢測。

性能參數

a)總放大倍數為50x-1000x；

b)目標Z空間：0-25mm；

c)具有明場、暗場（ADF）、偏光（其中檢偏器可旋轉360°）、微分干涉觀察功能和預留功能位置，功能轉換方便，增減功能操作簡捷；

d)具備記錄光口，可安裝數碼采集、視頻輸出等多種記錄及輸出方式

應用范圍

主要應用于制備樣片的金相顯微分析及各種缺陷的查找。

本頁產品地址：http://www.lgsztm.com/sell/show-7904423.html

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