類型便攜式激光測距儀品牌SemiconSoft 型號Mprobe測量范圍5nm-800m（m） 測量精度0.1nm或1%（mm） 適

合能陽光是一家硅材料檢驗儀器及服務提供商，提供全面的硅料、單晶硅片、多晶硅片等成套檢驗設備及最優解決方案。同時，拉單晶生產所需的輔料也是我公司主營范圍之一。

北京合能陽光新能源技術有限公司是一家集科、工、貿為一體的光伏高科技公司。
近年來，隨著太陽能行業的飛速發展，導致硅材料極度緊張，硅材料價格也不斷上漲，使得客戶在選用制造過程用的相關輔料耗材時，極為慎重，對于太陽能耗材的要求越來越高。合能陽光新能源技術有限公司在太陽能耗材、儀表、設備方面積累了多年的經驗，為客戶提供了高品質的產品和優質的服務。

每一張定單的背后都包含著合能陽光人做事的原則：
------及時發貨
------優質包裝
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我們所提供的不僅是產品，還將為您提供技術支持，我們在這個行業中的技術積累，使我們能夠為用戶解決問題，這也是我們引以為驕傲的角色。
 

類型	便攜式激光測距儀	品牌	SemiconSoft
型號	Mprobe	測量范圍	5nm-800μm（m）
測量精度	0.1nm或1%（mm）	適用范圍	aSi、TCO、GIGS、CdS、CdTe

產品介紹：

大多數半透明的或者光吸收的薄膜可以被快速的可靠的測量：氧化物、氮化物、光刻膠、聚合物、半導體材料（Si、aSi、PolySi）、復合硅材料（AlGaAs、InGaAs、CdTe、CIGS）、硬膜（Paralene、PMMA、Polyamides）、金屬薄膜等等。

技術指標：

■ 厚度范圍：5nm-800μm

■ 波長范圍：200nm-5000nm

應用范圍：

■ 太陽能電池薄膜應用：aSi、TCO、GIGS、CdS、CdTe-全太陽能電池堆疊測量

■ LCD、FPD應用：ITO、Cell Gaps、Polyamides

■ 光盤：介質濾光片、硬涂層、反射涂層

■ 半導體：Oxides、Nitrides、OLED stack

■ 200nm氧化層厚度的100個測量值

■ 實時測量及分析：多層的，不同薄厚的，和非均勻涂層

■ 可擴展材料庫（超過500中材料）：Cauchy、Tauc-Lorentz、Cody-Lorentz、EMA等等

產品特點：

■ 使用靈活：桌面或固定式，在線研發等

■ 測量：厚度、光學常數、表面粗糙度

■ 生產準備：后臺刻度校準、操作員/工程師界面、■ 靈活的系統配置。連接層和材料、多種樣品檢測、動態測量和批量處理

■ CdS/GIGS堆疊測量結果匹配VS數據產生

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