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價(jià)格:電議
所在地:北京
型號(hào):CDNY-03AM
更新時(shí)間:2019-07-01
瀏覽次數(shù):1544
公司地址:北京通州區(qū)永順翠福園8號(hào)樓
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夏佳麗(女士) 經(jīng)理
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率技術(shù),因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有強(qiáng)的抑制能力。
主要性能指標(biāo)及技術(shù)指標(biāo)
主信號(hào)通道:
信號(hào)輸入方式:?jiǎn)味私涣鬏斎?br style="margin: 0px auto; padding: 0px;" />
輸入量程:0.5mV-500mV
信號(hào)頻率范圍:1KHz±5%
本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點(diǎn)時(shí)源: ≤0.2%/h
參考信號(hào)通道:
信號(hào)輸入方式:?jiǎn)味私涣鬏斎?br style="margin: 0px auto; padding: 0px;" />
輸入幅度:20-700mV
頻率范圍:≥320。
免責(zé)聲明:以上所展示的[CDNY-03AM 光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀]信息由會(huì)員[北京金時(shí)速儀器設(shè)備經(jīng)營(yíng)部 ]自行提供,內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會(huì)員負(fù)責(zé)。