產(chǎn)品簡介
法國Phasics公司的SID4波前探測器,能夠提供高分辨率的相位圖,標(biāo)準(zhǔn)分辨率為160x120個采樣點,zui高分辨率可達400x300。SID4探測器能夠匹配CCD整個探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準(zhǔn),也能用于多色光源,并能
產(chǎn)品說明
法國Phasics公司研發(fā)“多距離干涉儀”創(chuàng)新技術(shù)的高分辨率波前分析儀,其應(yīng)用在光學(xué)測量學(xué)中(光學(xué)特性和表面分析系統(tǒng));也應(yīng)用在激光測量學(xué)中(分析儀和相適應(yīng)的光學(xué)環(huán));同樣應(yīng)用在生物領(lǐng)域(成像相位)等。
該波前傳感器通過對160×120取樣點的測量,可以給出相位和強度的分布圖,并可提供的激光束分析功能。
特點:
高分辨率(400×300的測量點陣)
消色差測量
高動態(tài)范圍
高靈敏度
設(shè)計簡潔緊湊
高
測量可重復(fù)性高
波前探測技術(shù)具有直接測量光路系統(tǒng)像差的能力,并且無需額外的過渡鏡。探測器可以測量波前傳輸時球面波的偏差。即使有大的光束偏差(如數(shù)值孔徑高達0.75),仍然可以做到光路系統(tǒng)與探測器間不使用過渡鏡就能測試。SID4探測器為光學(xué)測量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測量中提供完整的測量項目的光學(xué)量值特征:像差,PSF,MTF,有效焦距等。定制的特征報告也可編輯。

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