LZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協會（ASTM）推薦的材料驗收檢測方法“兩探針法”設計。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型，方型或矩形單晶錠（如硅芯、檢磷、硼棒、區熔鍺錠等）的電阻率，測樣長度與截面zui大尺寸之比應不小于3：1。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進出，遠離電壓測量探針，因此電流流過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應（如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等），對測量的影響較小，測量結果為橫截面的平均電阻率，兩探針法的測量精度一般優于四探針法。