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DM7276 DM7276
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：DM7276直流電壓計(jì),Hioki日置DM7276：DM7276接近標(biāo)準(zhǔn)型的測(cè)量 1年精度9ppm[DM7276].靜電電容式的接觸檢查.適用于生產(chǎn) 寬電源.EXT I/O、LAN、USB標(biāo)配
價(jià)格：面議
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DM7276-02 DM7276-02
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：日置DM7276-02,Hioki DM7276-02：DM7276-02(帶GP-IB接口)接近標(biāo)準(zhǔn)型的測(cè)量 1年精度9ppm[DM7276].靜電電容式的接觸檢查.適用于生產(chǎn) 寬電源.EXT I/O、LAN、USB標(biāo)配.
價(jià)格：面議
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DM7276-03 DM7276-03
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：DM7276-03直流電阻計(jì),日置DM7276-03：DM7276-03(帶RS-232接口)接近標(biāo)準(zhǔn)型的測(cè)量 1年精度9ppm[DM7276].靜電電容式的接觸檢查.適用于生產(chǎn) 寬電源.EXT I/O、LAN、USB標(biāo)配.
價(jià)格：面議
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SS7012 SS7012直流信號(hào)源
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SS7012直流信號(hào)源,日置HIOKI SS7012:SS7012信號(hào)發(fā)生和測(cè)量可同時(shí)進(jìn)行,與 HIOKI 之前的產(chǎn)品相比較，提高了穩(wěn)定性的同時(shí)降低了成本,用于控制信號(hào)系統(tǒng)(4 - 20 mA)的回路測(cè)試,檢查溫度控制設(shè)備和配電情況,可發(fā)生8種不同的熱電偶信號(hào).
價(jià)格：面議
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U8793 U8793任意波形信號(hào)發(fā)生器
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：U8793任意波形信號(hào)發(fā)生器,日置U8973:U8793是2ch任意波形信號(hào)輸出.可zui大15V輸出用存儲(chǔ)記錄儀測(cè)量到的異常波形信號(hào).可zui大15V輸出自定義的任意的波形信號(hào).和存儲(chǔ)記錄儀組合使用（適用機(jī)型有限，不適用于原8847、原MR8847-01/-02/-03）.
價(jià)格：面議
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Hioki 3511-50 Hioki 3511-50
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：Hioki 3511-50,日置3511-50 LCR測(cè)試儀：Hioki 3511-50精巧，非常專業(yè)，5ms快速測(cè)量LCR.高速測(cè)量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz).： ± 0.08%.內(nèi)置比較器.
價(jià)格：面議
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Hioki 3504-40 Hioki 3504-40
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：日置3504-40,Hioki 3504-40電容測(cè)試儀：Hioki 3504-40封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等.高速測(cè)量2ms.能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷.對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能.3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試.
價(jià)格：面議
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DM7275-03 DM7275-03
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：DM7275-03直流電壓計(jì),日置DM7275-03：DM7275-03(帶RS-232接口)的基本型 1年精度20ppm[DM7275].靜電電容式的接觸檢查.適用于生產(chǎn) 寬電源.EXT I/O、LAN、USB標(biāo)配。
價(jià)格：面議
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RM3542-01 RM3542-01
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：RM3542-01電阻計(jì),日置RM3542-01:RM3542-01(帶GP-IB接口)實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化系統(tǒng)中所要求的速度和.雙重檢查功能保證準(zhǔn)確接觸，實(shí)現(xiàn)可靠性測(cè)試,可用于集成電路片電感器和EMC對(duì)應(yīng)零件的低能耗電阻測(cè)量.
價(jià)格：面議
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IM3536 IM3536
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：日置IM3536,IM3536 LCR測(cè)試儀,IM3536：IM3536 DC，4Hz~8MHz測(cè)量頻率，今后的標(biāo)桿產(chǎn)品.測(cè)量頻率DC，4Hz~8MHz.測(cè)量時(shí)間：快1ms.基本精度：±0.05% rdg.1mΩ以上的精度保證范圍，也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量。
價(jià)格：面議
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IM3523 IM3523
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：IM3523 LCR測(cè)試儀,日置IM3523,IM3523：IM3523應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的理想選擇.基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA).在比如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，可以以往產(chǎn)品10倍的速度不間斷測(cè)試。
價(jià)格：面議
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IM3533 IM3533
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：IM3533 LCR測(cè)試儀,日置IM3533,IM3533:IM3533應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域.基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA).在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度比以往產(chǎn)品快10倍。
價(jià)格：面議
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IM3533-01 IM3533-01
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：IM3533-01 LCR測(cè)試儀,日置IM3533-01:IM3533-01應(yīng)用覆蓋線圈&變壓器生產(chǎn)到研發(fā)等諸多領(lǐng)域.基本精度±0.05％，測(cè)量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA).在例如C-D和ESR這樣的混合測(cè)量條件下，不間斷測(cè)試，速度比以往產(chǎn)品快10倍。
價(jià)格：面議
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Hioki 3506-10 Hioki 3506-10
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：Hioki 3506-10電容測(cè)試儀,日置3506-10：Hioki 3506-10對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,,高速測(cè)試.模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms(1MHz)的高速測(cè)量.提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度.1kHz、1MHz測(cè)量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量.
價(jià)格：面議
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RM3543-01 RM3543-01
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：RM3543-01電阻計(jì),日置RM3543-01:RM3543-01（帶GPIB接口）用于測(cè)試超低或低并聯(lián)電阻的電阻計(jì).自動(dòng)化系統(tǒng)中±0.16%的精度和0.01μΩ分辨率.優(yōu)越的反復(fù)測(cè)量精度.提供高性能的接觸檢查功能，比較器功能和數(shù)據(jù)輸出功能。
價(jià)格：面議
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RM3542 RM3542
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：RM3542電阻計(jì),RM3542說(shuō)明,日置RM3542:RM3542實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化系統(tǒng)中所要求的速度和.雙重檢查功能保證準(zhǔn)確接觸，實(shí)現(xiàn)可靠性測(cè)試,可用于集成電路片電感器和EMC對(duì)應(yīng)零件的低能耗電阻測(cè)量.
價(jià)格：面議
