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寧波瑞柯微智能科技有限公司

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粉末堆密度儀,粉體和顆粒特性測定儀,粉末電阻率測試儀,休止角測定儀,粉末電阻率測試儀,安息角測定儀,休止角測試儀,粉體松裝密度測定儀,粉末振實密度儀,斯柯特容量計,霍爾流速計,粉末電導率測試儀,堆積密度測定儀,粉體特性綜合測試儀,粉末流動性測試儀,表觀密度測定儀,密度計,體積密度測定儀,比重計,粉末真密度儀,粉體和顆粒性狀分析儀,粉末綜合測量,粉末剪切測試儀,粉末摩擦特性測試儀,jenike剪切試驗儀 電壓降測試儀,接觸壓降測試儀,端子電壓降測量儀,線束電壓降檢測儀 表面電阻率測試儀,導體電阻率測試儀,四探針測試儀,電導率測試儀,方阻測試儀,粉末電阻儀,半導體電阻率測試儀,體積電阻率測試儀,表面和體積電阻測試儀,高溫電阻測試系統(tǒng),雙電測四探針方阻/電阻率測試儀

全部分類

粉體/粉末/顆粒分析儀器

導電/絕緣材料電阻率測試儀系列

電壓降測試儀

粉體特性測試儀

粉末流動性測定儀

粉體流動性測試儀

粉體物性測試儀

粉末堆密度儀

粉末電阻率測試儀

安息角測定儀

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粉末電導率測試儀

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表面電阻率測試儀

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方阻測試儀

體積電阻率測試儀

表面和體積電阻測試儀

高溫電阻測試系統(tǒng)

雙電測四探針方阻/電阻率測試儀

水分儀

其他儀器儀表

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FT-343雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀
FT-343雙電測電四探針電阻率/方阻測試儀廣泛用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
2024-08-21
FT-803 多功能顆粒強度測試儀
FT-803多功能顆粒強度測試儀 滿足標準:符合ASTM D4179,測定各種固體顆粒,如球狀、擠出狀、和片狀的,催化劑及催化劑載體、藥片、飼料、藥品、化肥,分子篩,谷物類、碳酸鋇、氧化鋅、橡膠助劑、碳黑、包衣煙籽等的抗壓碎強度。符合國標GB/T 30202.3-2013《脫硫脫硝用煤質顆粒活性炭試驗方法 第3部分:耐壓強度、耐磨強
2024-08-21
FT-391 手持式四探針方阻測試儀
一.概述Overview:參照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》手持式四探針方阻測試儀
2024-08-21
FT-361 四探針電導率測試儀
四探針電導率測試儀 本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,zui小可以測試到1uΩ方阻值,是目前同行業(yè)中能測量到的zui小值,采用AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;適用于生產企業(yè)、高等院校
2024-08-19
FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀
FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法,適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據測試結果自動
2024-08-19
普通四探針電阻率測試儀
按照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》普通四探針電阻率測試儀
2024-08-19
FT-303C 液體電阻率測試儀
液體電阻率測試儀 一、 概述:緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如(長方體,圓柱體等是固有形狀)及不規(guī)則狀態(tài)(如粉末狀,膏體狀,液態(tài)流動狀),目前對緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環(huán)電結構測量規(guī)則形狀體
2024-08-19
FT-361超低阻雙電四探針測試儀
FT-361超低阻雙電四探針測試儀一、概述:本品為解決四探針法測試超低阻材料方阻及電阻率,zui小可以測試到1uΩ方阻值,是目前同行業(yè)中能測量到的zui小值,采用AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的
2024-08-19
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