Sensofar旗艦型三維共聚焦白光干涉輪廓儀S neox 全新設(shè)計的3D光學(xué)輪廓儀S neox顛覆傳統(tǒng)，將共聚焦、干涉和多焦面疊加技術(shù)融于一身，測量頭內(nèi)無運(yùn)動部件。全自動光學(xué)輪廓儀S neox能夠測量不同的材質(zhì)，結(jié)構(gòu)，表面粗糙度和波度，幾乎涵蓋所有類型的表面形貌。

北京儀光科技，專業(yè)的顯微形貌解決方案提供商！ 北京儀光科技有限公司是一家專門從事各類型光學(xué)顯微鏡、三維表面輪廓儀、激光干涉儀、掃描電子顯微鏡、材料樣品制備、科研相機(jī)等實驗室科研儀器銷售及服務(wù)的綜合供應(yīng)商，公司致力于為科研、工業(yè)、生命科學(xué)等用戶提供專業(yè)的顯微形貌分析解決方案。主營產(chǎn)品包括各品牌的金相顯微鏡、體式顯微鏡、偏光顯微鏡、測量顯微鏡、超景深顯微鏡、三維共聚焦顯微鏡、生物顯微鏡、影像測量儀、三維光學(xué)輪廓儀、激光干涉儀、掃描電子顯微鏡、熱臺顯微分析系統(tǒng)、清潔度分析儀、科研相機(jī)、高速攝像機(jī)、金相及巖相制樣設(shè)備等各類型科研分析儀器。提供制樣、顯微觀察、三維形貌分析和特殊應(yīng)用檢測等全套分析檢測解決方案。此外，公司也提供科學(xué)儀器的周邊配套裝置，比如冷熱臺、陰極發(fā)光臺、攝像頭、光學(xué)平臺等產(chǎn)品。 我司同時提供專業(yè)的材料分析應(yīng)用解決方案，包括全套顯微清潔度分析系統(tǒng)、全自動鑄件孔隙率分析系統(tǒng)、全自動夾雜物分析系統(tǒng)、全自動顆粒分析系統(tǒng)、汽車焊縫專業(yè)測量系統(tǒng)、自動型晶圓缺陷檢測系統(tǒng)、自動煤巖顯微分析系統(tǒng)、偏光冷熱臺顯微分析系統(tǒng)、偏光陰極發(fā)光臺顯微分析系統(tǒng)、偏光石棉檢測系統(tǒng)、瀝青中間相偏光觀察系統(tǒng)等專業(yè)的應(yīng)用解決方案。 北京儀光科技有限公司是西班牙Sensofar、美國Zygo、丹麥司特爾（Struers）、德國徠卡（Leica）、德國蔡司（Zeiss）、日本奧林巴斯(Olympus)、日本尼康(Nikon)、美國RMC、德國PCO等著名儀器公司的特許經(jīng)銷商。我們的客戶涵蓋高校、科研院所、農(nóng)林、醫(yī)療、石油石化、地質(zhì)、文博、軍工、船舶、汽車、工業(yè)材料、生命科學(xué)、電子半導(dǎo)體、電力、能源、檢測分析等各個行業(yè)。我們致力于以開放的視野、專業(yè)的技術(shù)、優(yōu)質(zhì)的服務(wù)為客戶提供完善的解決方案！ 企業(yè)理念：專業(yè)成就品質(zhì)，服務(wù)贏得信任！ Focus on microanalysis !

Sensofar旗艦型三維共聚焦白光干涉輪廓儀S neox 感受3D體驗，Sensofar 3D光學(xué)輪廓儀，為您展現(xiàn)全新的3D立體形貌

全新設(shè)計的3D光學(xué)輪廓儀S neox顛覆傳統(tǒng)，將共聚焦、干涉和多焦面疊加技術(shù)融于一身，測量頭內(nèi)無運(yùn)動部件。

Sensofar旗艦型三維共聚焦白光干涉輪廓儀S neox 全自動光學(xué)輪廓儀S neox能夠測量不同的材質(zhì)，結(jié)構(gòu)，表面粗糙度和波度，幾乎涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的高端形貌,測量應(yīng)用。Sensofar的核心是將3種測量方式融于體，確保了其卓越的性能。配合SensoSCAN軟件系統(tǒng)，用戶將獲得難以置信的直觀操作體驗。

SENSOFAR公司作為共聚焦干涉顯微鏡的發(fā)明者，開創(chuàng)性地將共聚焦和干涉技術(shù)結(jié)合在起，Sensofar旗艦型三維共聚焦白光干涉輪廓儀S neox 無需插拔任何硬件就可以在軟件內(nèi)自動實現(xiàn)共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切換。使客戶無需花費(fèi)高昂的費(fèi)用就能同時擁有共聚焦顯微鏡和干涉儀。

SENSOFAR在1999年創(chuàng)立之初，就是以三維表面形貌測量為主要研發(fā)方向，通過持續(xù)不斷地研發(fā)和申請利技術(shù)，在全球范圍內(nèi)創(chuàng)造了數(shù)百種表面形貌測量應(yīng)用產(chǎn)品，積累了豐富的技術(shù)實力。

 

一、產(chǎn)品特點(diǎn)及優(yōu)勢

1. 共聚焦模式

共聚焦技術(shù)可以用來測量各類樣品表面的形貌。它比光學(xué)顯微鏡有更高的橫向分辨率，可達(dá)0.10um.利用它可以實現(xiàn)臨界尺寸的測量。當(dāng)用150倍、0.95數(shù)值孔徑的鏡頭時，共聚焦在光滑表面測量斜率達(dá)70°（粗糙表面達(dá)86°）。

共聚焦算法保證Z軸測量重復(fù)性在納米范疇。

2. 相位差干涉模式

相位差干涉是一種亞納米級精度的用于測量光滑表面高度形貌的技術(shù)。它的優(yōu)勢在于任何放大倍數(shù)都可以保證亞納米級的縱向分辨率。使用2.5倍的鏡頭就能實現(xiàn)超高縱向分辨率的大視場測量。

3. 白光干涉干涉模式

白光干涉是一種納米級測量精度的用于測量各種表面高度形貌的技術(shù)。它的優(yōu)勢在于任何放大倍數(shù)都可以保證納米級的縱向分辨率。

4. 多焦面疊加模式

多焦面疊加技術(shù)是用來測量非常粗糙的表面形貌。根據(jù)我們在共聚焦和干涉技術(shù)融合應(yīng)用方面的豐富經(jīng)驗，特別設(shè)計了此功能來補(bǔ)足低倍共聚焦測量的需要。該技術(shù)的最大亮點(diǎn)是快速(mm/s)、掃描范圍大和支援斜率大(最大86°)。此功能對工件和模具測量特別有用。

5. 真彩色共聚焦圖像

每個像素點(diǎn)都能還原真實的色彩。在掃描時紅、綠、藍(lán)三色LED交替照明，并將三張單色的圖片還原成一幅高分辨率的彩色圖像。相比其他品牌采用像素插值算法，S neox用這種技術(shù)獲得的圖片色彩保真度和還原性更勝一籌。

 

6. 3D形貌的最新體驗

超清晰的細(xì)節(jié)，用高分辨率的攝像頭將共聚焦的圖像精彩呈現(xiàn)

7. 超清晰的細(xì)節(jié)

將納米世界呈現(xiàn)給您，用高分辨率的攝像頭將共聚焦的圖像精彩呈現(xiàn)。

8. 多樣的配置方案-平臺尺寸（從4寸到12寸）

標(biāo)準(zhǔn)尺寸支架：

超大尺寸支架：

二、應(yīng)用實例

 

 

 

 

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