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XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀

北京精科智創科技發展有限公司
會員指數: 企業認證:         

價格:電議

所在地:北京

型號:

手機:18210063398

電話:010-60414386

更新時間:2024-09-18

瀏覽次數:949

公司地址:北京順義北小營

18210063398   謝經理(先生)   (來電時請說是從給覽網看到我的)

產品簡介

諧振腔法是一種重要的材料測量方法,具有廣泛的應用前景。隨著科技的不斷發展,諧振腔法將會在材料科學、電子工程、通信技術等領域發揮越來越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀是為中低損耗材料、均質材料、小樣品測試等需求而開發的一款高精度高性價比的材料測試平臺。

公司簡介

北京精科智創科技發展有限公司是一家主要是從事精密儀器設備,我們同中國科學院,北京科技大學,清華大學,上海交通大學,北京航空航天大學等建立了合作和研究中心,目前我們主要在安全控制設備,計量檢測設備,科學材料研究設備,3D打印及空間技術的研發和銷售,我們將同國內的科研機構和高等院校進行更加廣泛的合作,服務于國內和國外廣大客戶,我們將提供優質產品,優質服務,共同開拓進取。

我們為你提供材料表征測量的一系列產品:

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一表征:壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀

2、ZJ-4型d33測量儀

3、ZJ-5型積層壓電測試儀

4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀

5、ZJ-7型高溫壓電測試儀

★壓電極化裝置

1、PZT-JH10/4壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時極化1-4片)

2、PZT-JH10/8壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片)

3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置(20KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片)

4、PZT-FJH20  /3高壓真空,空氣極化裝置(20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣)

★ 壓電制樣裝置

1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機(壓力范圍: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30電動型壓電陶瓷壓片機(壓力范圍: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T)

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第二表征 鐵電材料測量系統及電滯回線測量系統

1ZT-4C型綜合鐵電測量系統

2JKZT-10A鐵電材料綜合參數測試儀

3JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統

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第三表征 熱電材料分析測量系統及塞貝克系數測試儀

1BKTEM-Dx熱電性能分析系統

2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統

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第四表征 介電材料測試系統

1、 常溫介電測量系統,常溫介電材料測試儀

2、 高溫介電測量系統,高溫介電材料測試裝置


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第四表征磁性材料測試系統


展開

產品說明

XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀
                


   諧振腔法是一種重要的材料測量方法,具有廣泛的應用前景。隨著科技的不斷發展,諧振腔法將會在材料科學、電子工程、通信技術等領域發揮越來越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀是為中低損耗材料、均質材料、小樣品測試等需求而開發的一款高精度高性價比的材料測試平臺。融合矢量網絡分析儀和試夾具于一體,可進行30MHz110GHz頻率范圍內的微波復介電常數測試。該系列產品精度高、接口豐富,在科研實驗中能發揮十分重要的作用。

主要特點:

1、    測試精度高,速度快

2、    頻率范圍: 0.1~110.0GHz

3、    系統配置簡單,易操作,測量軟件簡單易用,自動化程度高

主要技術參數:

1、頻率范圍: 0.1~110.0GHz

2、測試溫度:-50~1750

3、電磁參數測試范圍: er'= 1.0~100tanoc=1.0×10-4 ~ 5×10-2ur'= 0.1 ~10.0tanou =1.0×103~1.0   

一、諧振腔微擾法測試設備

頻率范圍:0.1~40.0GHz測試溫度:室溫~1750℃復介電常數測試范圍:

cr'= 1.0 ~30.0

tan&e=2.0×10-~5×102ur'= 0.5~10

tanou = 0.001 ~1.0常溫測試誤差:

|Asr'/er'\1.5%sr'=2.0 ~30.0

Acr'| 2.0% × cr'+0.02r'=1.05~2Atanoe 15.0% tano8+ 2.0x10-4

Aur'/ur'\5.0%

Atanou| 15% tanou + 5.0x10-4樣品尺寸:

圓棒或方棒狀小樣品材料,直徑:1.0~6.Omm,高度不低于30mm;

(實際尺寸視具體情況而定)

2、高Q腔法測試設備


頻率范圍:2.0~7.0 GHz7.0 ~18.0 GHz測試溫度:室溫~1600

復介電常數測試范圍:

cr'=l~10

tanoc=1.0×10-4~1.5×10-2常溫測試誤差:

|Acr'/cr'\2.0%sr'=2~10

Acr'| 1.8%x Er'+0.02sr'=1.05~2Atanoe| 15% tanoe +1.0×10-4

樣品尺寸:

2.0~7.0GHz

圓片材料直徑:150.0mm,厚度:3.0 ~10.Omm

7.0~18.0 GHz

圓片材料直徑:50.0mm,厚度:1.5~3.0mm




本頁產品地址:http://www.lgsztm.com/sell/show-9433158.html
免責聲明:以上所展示的[ XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測試儀]信息由會員[北京精科智創科技發展有限公司]自行提供,內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
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