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價格:電議
所在地:北京
型號:HAD-JDB
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更新時間:2024-05-07
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公司地址:北京市海淀區

介電常數介質損耗測試儀 型號:HAD-JDB
、介電常數介質損耗測試儀 符合標準:
ASTM D150-11實心電緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數)的標準試驗方法;
GB/T1409-2006測量電氣緣材料在頻、音頻、頻下電容率和介質損耗因數的推薦方法;
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法;
GBT5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法4分:介電常數和介質損耗角正切值的測試方
二、介電常數介質損耗測試儀 主機及夾具參數:
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項目/型號 |
HAD-JDB |
HAD-JDA |
HAD-JDC |
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信號源 |
DDS數字合成信號 |
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頻率范圍 |
10KHZ-70MHZ |
10KHZ-110MHZ |
100KHZ-160MHZ |
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信號源頻率覆蓋比 |
7000:1 |
11000:1 |
16000:1 |
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采樣度 |
11BIT |
12BIT |
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信號源頻率度 |
3×10-5 ±1個字,6位有效數 |
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Q值測量范圍 |
1~1000自動/手動量程 |
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Q值量程分檔 |
30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔 |
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Q分辨率 |
4位有效數,分辨率0.1 |
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Q測量作誤差 |
<5% |
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電感測量范圍 |
1nH~8.4H,;分辨率0.1 |
1nH~140mH;分辨率0.1 |
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電感測量誤差 |
<3% |
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電容直接測量范圍 |
1pF~2.5uF |
1pF~25uF |
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調諧電容誤差分辨率 |
±1pF或<1% |
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主電容調節范圍 |
30~540pF |
17~240pF |
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諧振點搜索 |
自動掃描 |
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自身殘余電感扣除能 |
有 |
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大電容值直接顯示能 |
有 |
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介質損耗直讀能 |
有 |
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介質損耗系數度 |
分之 |
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介質損耗測試范圍 |
0.0001-1 |
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介電常數直讀能 |
無 |
有 |
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介電常數度 |
千分之 |
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介電常數測試范圍 |
0-1000 |
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LCD顯示參數 |
F,L,C,Q,LT,CT,波段等 |
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度 |
150pF以下±1pF;150pF以上±1% |
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Q合格預置范圍 |
5~1000聲光提示 |
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環境溫度 |
0℃~+40℃ |
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消耗率 |
約25W |
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電源 |
220V±22V,50Hz±2.5Hz |
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片尺寸 |
38mm/50mm(二選) |
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片間距可調范圍 |
≥15mm |
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材料測試厚度 |
0.1-10mm |
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夾具插頭間距 |
25mm±0.01mm |
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夾具損耗正切值 |
≤4×10-4 (1MHz) |
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測微桿分辨率 |
0.001mm |
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測試片 |
材料測量直徑Φ38mm/50mm,厚度可調 ≥ 15mm |
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