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微納99E 微納99E靜態顆粒圖像儀

濟南微納顆粒儀器股份有限公司
會員指數: 企業認證:         

價格:電議

所在地:山東 濟南市

型號:微納99E

更新時間:2020-05-08

瀏覽次數:1225

公司地址:山東省濟南市高新區大學科技園北區F座東二單元

張經理(女士) 市場部 

產品簡介

石家莊/唐山微納99E靜態顆粒圖像儀生產廠家該儀器采用了新的高速CMOS攝像頭,擁有高達2048x1536的分辨率,同時具有超高清晰度和超高信噪比及轉換精度等優點。

公司簡介

"中國顆粒測試技術的領航者"、“中國顆粒測試第一股”------濟南微納顆粒儀器股份有限公司是集研發、生產、銷售顆粒測試相關儀器設備于一體的高新技術企業(證券名稱:“微納顆粒”,證券代碼:“430410”)。公司創始人自1985年承擔國家七五科技攻關項目開始,專業研究激光粒度測試技術及顆粒圖像技術至今已有近30年的歷史,技術深厚,產品質量過硬。

濟南微納一直以“發展與普及當代最先進的顆粒測試技術”為己任,研制的濕法、干法、醫用噴霧、工業噴霧等系列的激光粒度測試設備,均代表了國內同行業的最高水平,并于2006年推出代表世界先進水平的在線激光粒度測試儀,2007年推出國內第一臺動態顆粒圖像分析儀,2009年推出國內第一臺動態光散射原理的光相關納米粒度儀,將中國顆粒測試技術推向了一個全新的高度。目前,以激光粒度儀為代表的“微納品牌”顆粒測試系列儀器已有七大類三十多款產品,滿足了不同層次用戶的新產品開發及產品質量控制的需求。
濟南微納公司以高校為依托,培養了一流的技術開發團隊,90%以上的員工具有大學本科以上學歷,其中光學、電子、計算機、化工、材料各方面的專家、教授、博士、碩士研究生多名;公司的董事長兼首席專家-----任中京教授是濟南大學研究生導師,從事激光顆粒分析理論與技術研究工作30多年,理論基礎深厚、扎實。是我國激光粒度分析技術的開創者,在顆粒測試領域享有極高聲譽,并連任中國顆粒學會五屆常務理事,山東顆粒學會理事長等職位,被評為國家有突出貢獻的科學家稱號;微納公司還與國內許多大學、研究機構建立了良好的合作關系,廣泛進行新技術的交流合作及科研項目的研發,積累了雄厚的技術實力。

微納產品不但暢銷國內,還大量銷往海外,以其過硬的產品質量和雄厚的技術實力與優質的客戶服務獲得了社會及廣大用戶的好評。濟南微納獲得中國業內最具創新實力的企業、中國顆粒測試技術的領航者等榮譽稱號,被國際權威組織排入亞洲粉體企業50強。

公司網站:www.jnwinner.com

全國免費服務咨詢熱線:4000-1919-82。

展開

產品說明


石家莊/唐山微納99E靜態顆粒圖像儀生產廠家

Winner99E是用于顆粒大小分布與顆粒形貌分析的專用儀器。該儀器通過精心設計的光學顯微鏡和專業級的攝像頭獲取顆粒信息;使用計算機圖像分析技術進行分析處理,從而測定顆粒大小分布與顆粒形貌特征。本儀器具有操作方便、圖像清晰、測量直觀,分辨率高達0.1微米/象素,測試范圍廣的突出特點,可廣泛適用于大專院校、研究院所以及大中型企業的新產品研究開發、工藝控制和質量檢驗。適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、顏料、化工產品、鉆井泥漿、農藥、石墨、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣及其它粉狀物料。

Winner99E是我公司Winner99C與winner99D產品的升級版本,采用擁有更高分辨率的高速CMOS攝像頭和全新的自動分析算法,提高了自動分析的準確率,并可以自由生成彩色和二值化的粒度分析報告。同時該儀器增加了邊界檢測和均衡化兩種手動二值化算法,大幅降低了動態二值化的誤差和復雜度,提高了分析的準確性。

該儀器采用了新的高速CMOS攝像頭,擁有高達2048x1536的分辨率,同時具有超高清晰度和超高信噪比及轉換精度等優點。
石家莊/唐山微納99E靜態顆粒圖像儀生產廠家

適用范圍:

    Winner99E靜態顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業。

結構特征:

標配的Winner99E顯微顆粒圖像分析儀系統是由“專用顯微鏡設備”、“高清晰攝像裝置”以及安裝在電腦主機中的“圖象分析軟件”三大部分組成。構成如圖:

 

石家莊/唐山微納99E靜態顆粒圖像儀生產廠家

技術參數:

規格型號

Winner99E

執行標準

ISO13322-1: 2004; GB/T21649.1-2008

顯微系統

物鏡

4X、10X、40X、60X、100X(油)長距消色差(平場)物鏡組

目鏡

1X、10X、16X 大視野攝像目鏡

載物臺

手動三維機械式載物臺,尺寸:185mm×140mm,

移動范圍:50mm×75mm,粗微同軸調焦,

微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置

光源

底部透射光源,6V 20W鹵素燈,亮度可調。可選頂部金相落射式光源(帶起偏振器)

總放大倍數

4倍——1600倍

攝像系統

zui高分辨率

2048×1536

像素尺寸

3.2μm×3.2μm

成像元件

1/1.8英寸 progress scan CMOS

幀率

6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480

zui高清晰度

900線

信噪比

小于42dB

敏感度

1.0V@550nm/lux/S

輸出方式

USB2.0

實際觀測范圍

1-6000μm

軟件功能

靜態采集

將樣品形貌拍攝為高清晰JPG圖片

 

圖片處理

使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理

 

圖像拼接

將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進行拼接,進一步提高了結果的準確性。

顆粒的自動處理工具集

自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。

 

比例尺標定

通過標準測微尺標定后,每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數值即可直接得到顆粒的實際大小數值。

 

單個顆粒數據

可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數的分析。

任務管理機制

嚴格的任務管理機制,使用戶能夠將所有測試數據井井有條的管理起來。

報告輸出

將測試結果輸出為報告,并可以自由修改報告樣式。

整體分布特征參數

D10、D50(中位徑)、D90、D100等顆粒分布的特征參數

報告參數

整體頻率分布累計分布

顆粒按數量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數據表、曲線圖、柱狀圖等。

統計平均徑

Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統計平均徑

形狀參數

長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數等表征顆粒形狀的10多項常用數據

個數統計

直接得到所觀測的顆粒數量

樣品縮略圖

可以將樣品彩色或黑白(可選擇)縮略圖顯示到報告中

表頭輸入

可以將樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭中

產品特點和:

強大的分析功能

通過新增加的自動分析功能,以及更為簡單強大的“均衡化”和“邊界檢測”等二值化方法,大地提高了數據處理和分析能力。減少了用戶操作的復雜性,提高了儀器性和分辨率。

測試結果直觀易懂

進行顆粒檢測的同時還可觀測樣品的形貌,這能夠使用戶更的了解顆粒的形貌、狀態、變化過程等信息。并且,對照直觀的樣品圖片,可以幫助用戶更好的理解報告中的數據含義。

圖像拼接功能

將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數量以提高測試的代表性。同時也可單張分析保存后再進行拼接,進一步提高了結果的準確性。

顆粒的自動處理工具集

自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。


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