T-4-10型探針的鎢材質針尖在

掃描電鏡下的成像

T-4 系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路，電，或者FIB(聚焦離子束) 制作的mini電。

T-4系列軟針的結構采用不同直徑鎢材質針須焊接于鍍錫的銅材質針桿上。

其中T-4-10和T-4-22兩款是客戶反饋比較有的型號，因為其針須直徑較細，具有良好的彎曲彈性，能夠大的減少對芯片電的損害，在部分震動環境下面也能夠保證和電的良好接觸。

T-4 軟針不建議在敏感節點使用，因為會產生電容負載的問題，在此環境下，建議使用高阻抗Picoprobes系列探針。

圖1

T-4 系列探針

型號

鎢材質針須直徑

針尖直徑

針須長度

T-4-5

5 微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-10

10微米

<0.2微米

0.13" (3.3mm)

T-4-22

22微米

<2.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-35

35微米

<4.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-60

60微米

<6.0微米

0.20" (5.1mm)

T-4-125

125微米

<10.0微米

0.20" (5.1mm)

圖2

T-4 系列探針尺寸圖

圖3

ST 系列硬針是0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質針桿經過電化學加工成為不同的針尖直徑，長度為1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應用與大多數的芯片電點測和線路點測。

ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳，如果選擇鍍鎳則型號后面增加“NP”。

ST系列硬針

型號

針桿直徑

針尖直徑

ST-20-0.5

0.020" (0.51mm)

<1 微米

ST-20-1.0

0.020" (0.51mm)

<2.0微米

ST-20-2.0

0.020" (0.51mm)

<4.0微米

ST-20-5.0

0.020" (0.51mm)

<10.0微米

ST-20-10.0

0.020" (0.51mm)

<20.0微米

圖 4

ST 系列探針尺寸

圖5