HAD-M-2型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。

北京恒奧德科技有限公司總部位于北京，是一家致力于自動化儀器儀表產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和工程服務(wù)的專業(yè)公司！以自主研發(fā)生產(chǎn)自動化儀器儀表和代理國外知名品牌為經(jīng)營方式！

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我們堅信 良好的信譽，合理的價格以及卓越的產(chǎn)品質(zhì)量是取悅于每一位客戶的戰(zhàn)術(shù)，同時這也正是我們企業(yè)的生存希望！我們也期盼著社會各界人士能對我們的產(chǎn)品提出寶貴的建議。

我們的宗旨：為客戶提供能夠創(chuàng)造高效益的服務(wù)！

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一、結(jié)構(gòu)特征

如上圖
二、概述
HAD-M-2型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。
本測試儀可贈設(shè)電池供電，適合手持式變動場合操作！
儀器參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉(zhuǎn)換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位、游移率小、壽命長；測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

三、基本參數(shù)

1.測量范圍、分辨率
電 阻： 1.0×10^-2～ 2000Ω, 分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10Ω
電 阻 率： 1.0×10^-2～ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10^-2～ 0.1Ω-cm
方塊電阻： 1.0×10^-1～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10^-1～ 0.1×10Ω/□
2.可測半導體材料尺寸
直 徑： 測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或高）度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3.量程劃分及誤差等

量程	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0
	kΩ-cm/□	Ω-cm/□			mΩ-cm/□
基本誤差	±1%FSB±2LSB				±1.5%FSB ±4LSB

4)適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電
5)外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重：≤0.5kg




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