HAD-M-2型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。

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我們堅信 良好的信譽，合理的價格以及卓越的產品質量是取悅于每一位客戶的戰術，同時這也正是我們企業的生存希望！我們也期盼著社會各界人士能對我們的產品提出寶貴的建議。

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一、結構特征

如上圖
二、概述
HAD-M-2型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻），換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
本測試儀可贈設電池供電，適合手持式變動場合操作！
儀器參數設定、功能轉換部采用一旋鈕輸入；具有零位、滿度自校功能；自動轉換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位、游移率小、壽命長；測試結果由數字表頭直接顯示。

三、基本參數

1.測量范圍、分辨率
電 阻： 1.0×10^-2～ 2000Ω, 分辨率0.1×10^-3～ 0.1×10Ω
電 阻 率： 1.0×10^-2～ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10^-2～ 0.1Ω-cm
方塊電阻： 1.0×10^-1～ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10^-1～ 0.1×10Ω/□
2.可測半導體材料尺寸
直 徑： 測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.
長（或高）度： 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3.量程劃分及誤差等

量程	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0
	kΩ-cm/□	Ω-cm/□			mΩ-cm/□
基本誤差	±1%FSB±2LSB				±1.5%FSB ±4LSB

4)適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電
5)外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重：≤0.5kg




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