M4 TORNADO采用了全新的技術，為各種用戶提供了的分析性能和非常方便的操控性。
采用多導毛細管聚焦鏡，照射光斑zui小，空間分辨率。
渦輪增速X-Y-Z樣品臺，借助放大倍數可變的攝像系統獲得高品質的樣品影像，可在“飛行中”進行元素分布分析。
高強度的X射線光管與多導毛細管聚焦鏡相結合，確保在非常小的照射區域內獲得非常高的激發強度。采用濾光片和可以同時使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據不同的分析要求，優化激發光譜。
使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進一步提高測量速度。
采用無標樣分析法定量分析塊狀樣品，分析多層膜樣品。
可抽真空的樣品室配有自動門，大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個放大倍數可變的攝像系統觀察樣品（整體觀察和分析區域的細致觀察），便捷進樣功能和自動對焦功能可以進行快速而的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品臺運行程序可實現重復測量。
電子元器件分析
太陽能電池分析
生物科技分析
顆粒分析
地質樣品分析
涂料分析
低合金鋼分析
考古分析
樣品類型：固體、顆粒、液體、多層膜
樣品室尺寸：W×D×H：600×350×260mm
樣品臺尺寸：W×D：330×170mm
測量氣氛：大氣/真空，在100秒內準備就緒
樣品移動：移動范圍 W×D×H：270×240×120mm
移動速度：渦輪增速樣品臺移動速度可達100mm/s
激發：配多導毛細管聚焦鏡的高強度X射線光管
選項：可同時使用不同靶材的雙光管
X射線光管參數
靶材：Rh，可選靶材：Mo，Ag，Cu，W
電壓：50kV,800μA
光斑大小：小于30μm（對于Mo-K）
濾光片：根據用戶要求，多6塊濾光片
探測器：Flash®硅漂移探測器
選項：可多同時使用3個探測器
探測器參數
有效面積：10mm2，選項：30mm2
能量分辨率：計數率250,000cps時分別優于125eV、135eV
儀器控制：的PC機，Windows XP或Vista操作系統
儀器控制功能：光管參數、濾光片、光學顯微鏡、樣品照明和樣品定位的控制
光譜評估：譜峰識別、人工和自動背景校正、峰面積計算、對于塊狀樣品和多層膜樣品基于標樣和無標樣模式的定量分析
分布分析：“飛行中”測量模式，HyperMap軟件功能
結果顯示：定量結果、統計計算、元素分布（線掃描、面分布）
電源要求：110-240V（1P），50/60Hz
尺寸（寬×深×高） 815×680×580mm，130kg
質量和安全：DIN EN ISO 9001:2000認證, CE認證
完全輻射防護系統；輻射劑量＜1μSv/h
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