材料磁性綜合測量儀 型號；RHA-FD-VSMG-A

表面磁光克爾效應研究超薄膜磁性質，研究磁光存儲的特性，開發的高密度磁光存儲介質。可用于納米技術、巨磁阻、磁電子器件等新磁性材料的研究。將具有磁致伸縮效應的鐵磁材料晶體研制成新的合金材料，具有很高的居里溫度特點 , 引發傳統電子信息系統、傳感系統、振動系統等領域產生變革。故對材料磁致伸縮性的研究也是外材料研究領域的又一個重點。振動樣品磁強計應用于測量鐵磁、反鐵磁、抗磁等材料的磁特性，包括對稀土永磁材料、鐵氧體材料、超導材料及生物蛋白質的磁性研究。古埃法磁天平用于磁學和磁化學研究，可測量順磁和逆磁磁化率，磁流體的磁矩和磁化特性。

　　RHA-FD-SMOKE-B 型表面磁光克爾效應實驗系統為基礎，將表面磁光克爾效應、磁致伸縮效應、振動樣品磁強計和磁天平四種測試手段融合在一個測量系統當中，共用同一臺電磁鐵，整合了信號處理系統。并且在磁致伸縮效應的測量上使用了獨特的方式使得操作更為方便，靈敏度更高。

　　儀器主要技術參數：

• 實驗平臺 光學減振組合式實驗臺，臺面尺寸 1600 × 1200mm ， M6 螺孔，孔距 25 × 25mm

• 電磁鐵 磁間隙 0-50mm 連續可調

• 恒流電源 0-7. 連續可調

• 半導體激光器 波長 650nm ，輸出功率 2mW

• 位移傳感器測量精度 0.1um

• 磁化強度測量精度 10 -6 Am 2

四探針測試儀/四探針電阻率測試儀/四探針檢測儀/單測四探針檢測儀(不能接電腦） 型號：RHA-GSZ-RTS-4（SDY-4替代）

RHA-GSZ-RTS-4型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。
儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
儀器采用了新電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。
本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
RHA-GSZ-RTS-4型四探針軟件測試系統是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數據并對測試數據進行統計分析。
測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析
技術參數：

標準手提擊實儀/手提擊實儀/標準擊實儀/標準手提擊實器 型號：RHA-NT-JDS-3

RHA-NT-JDS-3型標準手提擊實儀用于測定土的密度和含水量的關系，從而確定zui大干密度與相應的含水量。儀器輕重型兼用， 錘重可更換從2.5Kg到4.5Kg。錘重和落高可調以適合不同的測試要求。
技術參數：

1. 擊錘: 2.5kg, 4.5kg
2. 擊錘落高: 兩種落高可選: 305mm 或 457mm
3. 試件模: Ø102 x 116mm, Ø152 x 116mm
4. 儀器尺寸: 270 x 270 x 850mm (L x W x H)
5. 儀器重量: 14kg