TX-TD300型磁性測厚儀是種小型便攜式儀器，磁性測厚儀也稱涂層測厚儀、鍍層測厚儀、涂鍍層測厚儀。其性能穩定、測量、重現性好、經濟耐用，符合標準GB/T4957，多次通過術監督門的性能試驗，獲得計量器具制許可證。

膜厚校正片
﹡ 膜厚校正片是儀器的計量基準。TX-TD300磁性測厚儀的膜厚校正片經過術
     監督門的檢測，附有檢測報告。這點在外儀器中都是不多見的。它保
     證了儀器計量的性和性。

探頭
﹡ 測厚儀容易損壞的件是探頭，本公司的TX-TD300磁性測厚儀對探頭做了特殊
     的耐久性設計，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護能。

探頭線
﹡ 由于涂鍍層測厚儀使用頻率很，探頭線成為易損件。般產儀器的探頭用
     不多久就會出現故障，多數問題出在探頭線上。

天星磁性測厚儀使用的探頭線是在日本定做的。這種導線初用于機器人，規定可
經受幾百次的曲折。實踐證明，這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。

 TX-ED400型渦流測厚儀是TX-ED300型測厚儀的改型，儀器性能大幅度提。
      儀器適于測量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在生產現場、銷售現場或施現場對產品行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
      儀器符合標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
       TX-ED400型渦流測厚儀與TX-ED300型相比，具有如下特點：
＊量程寬   TX-ED400型的量程達到0～500μm。
＊度   TX-ED400型的測量度達到2%。
＊分辨率   TX-ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便   只校正“0”和“50μm”兩點，即可在量程范圍內設計度。
＊基體導電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量
   誤差不大于1～2μm。
＊性提   采用集成度、穩定性電子器件，電路結構優化，儀器性
   提。
＊穩定性提   采用的溫度補償術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀器
   校正次可在生產現場使用。
＊探頭線壽命長   采用德口的，在德測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
   可大大延長。
＊探頭芯壽命長   采用強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延
   長。
＊探頭可互換   外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行換備用探頭。儀器無
   需返廠維修。

測量范圍：     0～500μm
測量度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：     0～50μm：0.1μm、
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     260g