自動開口閃點儀 型號：TY-SD2000K產品簡介：TY-SD2000K型自動開口閃點儀，采用標準GB267-88和GB3536-83自動開口閃點測

本公司主營 不銹鋼采水器，罐底焊縫真空檢測盒，八級空氣微生物采樣器，涂層測厚儀，土壤粉碎機，腐蝕率儀，凝固點測試儀，水質檢測儀，涂層測厚儀，涂層測厚儀，土壤粉碎機，數顯式溫度計，氣體采樣泵，水質檢測儀，PM2.5測試儀，牛奶體細胞檢測儀，氦氣濃度檢測儀，土壤水分電導率測試儀，場強儀，毛細吸水時間測定儀，氧化還原電位計 測振儀，一氧化碳二氧化碳檢測儀，黏泥含量測試儀，自動電位滴定儀，便攜式測溫儀，干簧管測試儀，電導率儀，水質分析儀，土壤氧化還原電位計，數字測溫儀，便攜式總磷測試儀，腐蝕率儀，余氯檢測儀，顆粒強度測試儀，高斯計，自動涂膜機，，雨量計，四合一氣體分析儀，溶解氧儀，薄層鋪板器，溫度記錄儀，動覺方位儀，菌落計數器，雨量計，毛細吸水時間測定儀，污泥比組測試儀，大氣采樣器，流速儀，體積電阻率測試儀，照度計，涂布機，老化儀

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2.數字式四探針測試儀/四探針測試儀/數字式四探針檢測儀　型號：HHY8-SZT-2000

HHY8-SZT-2000型數字式四探針測試儀是根據四探針測試原理研究成的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀

半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻行測量，可以從10^-6--10⁵Ω—cm量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監測的需儀器。

儀器為臺式結構，分為電氣箱、測試架兩大分，用戶可以根據測試需要安放在般作臺或者專用作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的特點。探頭內設有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續可調，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。

儀器電氣箱主要由靈敏的直流數字電壓表和穩定的恒流源組成，測量結果由數字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能行校驗。

儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究門、等院校，對半導體材料的電阻性能測試及藝檢測。

儀器主要術標：

1．  范圍：電阻率10^-4—10³Ω—cm，可擴展至10⁵Ω—cm，分辯率為10^-6Ω—cm

         方塊電阻10^-3—10³Ω /□

         電阻10^-6—10⁵Ω

2．  可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm

3．  測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）

4．  數字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數+8字）

              2 mV檔以上±（0.3%讀數+2字）

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋10⁵Ω

              20mV檔以上>10⁸Ω

  (4)顯示3 1/2位數字顯示，0—1999

具有性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示

5．  恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續可調，由交流電源供給

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   （3）電流誤差：±（0.3%讀數+2字）

6．四探針測試探頭  （1）探頭間距：1mm   (2)探針機械游率：±0.3%

                   (3) 探針：Φ0.5mm    (4)壓力：可調

  7. 測試架：

  （1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

  （2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調，探頭下降時間1S—99S可調，壓力恒定可調（由砝碼來設定）同時設有腳踏控制裝置由腳踏開關控制探頭上下運動。

   8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：率消耗<35W

9．    外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

3.半導體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導體電阻率測定儀(含探頭和測試架）　型號：HHY8-BD-86A

HHY8-BD-86A型半導體電阻率測試儀是我廠推出的新的普及型半導體電阻率測試儀器，本儀器是根據四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率，方塊電阻（簿層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據美ASTM標準的規定，在電路和探頭方面作了重大的修改和術上的許多突破，它適合于半導體器材廠藝檢測方面對中值、阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量度，穩定性好，輸入阻抗，使用方便、價格低廉等特點。

   儀器主要術標：

1．  測量范圍：電阻率10^-3—10³Ω-cm，分辯率為 10^-4Ω-cm ，可擴展到10⁵Ω-cm

  方塊電阻10^-2—10⁴Ω/□，分辯率為10^-3Ω/□，可擴展到10⁶Ω/□

薄層金屬電阻10^-4—10⁵Ω，分辯率為10^-4Ω

2.可測半導體材料尺寸：直徑Φ15—Φ125mm；  長度：150mm(可擴展500mm)

     3.測量方式：軸向、斷面均可

4．數字電壓表：（1）量程：20mV(分辯率：10μV)、200mV、2V

             （2）測量誤差：±0.3%讀數±1字

             （3）輸入阻抗：大于10⁸Ω

             （4）顯示3 1/2 位紅色發光二管（LED）數字顯示

                  0---1999具有性、過載、小數點、單位自動顯示

5．恒流源：由交流供電，具有良好的防泄漏隔離能

（1）       直流電流：0—100mA連續可調

（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3）       分辯率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4）       電流誤差：±0.3%讀數±2字

6．電性能模擬考核誤差：<±0.3%符合ASTM標

7．測試探頭：（1）探針機械游移率：± 0.3% 符合ASTM 標

8．電源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  率消耗< 30W

9．電氣箱外形尺寸：119×440×320mm

溫馨提示：以上發布的產品資料和圖片都是按順序相對應的


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