應力雙折射測試儀
全自動雙折射測量系統 ABR-10A ( 高解析度、高速型 ) 雙折射系數的線性解析度高達 0.01nm ； 可同時測量延遲軸和主軸兩個方向； 基于光學相位差的雙折射系數顯示； 一秒采樣時間； 應用： 液晶顯示屏膜； 聚合物膜的取向； DVD 和 CD 光學系統組件； 由于薄膜和基材之間熱膨脹系數不同引起的應力； 某些透明材料的內部殘余應力，如光學玻璃和塑料； 某些透明材料的熱應力； 光彈性系數； 全自動雙折射測量系統 ABR-22( 自動測量線性和周向雙折射系數，高速型 )

特點：
1）可同時或測量線性和周向雙折射系數；
2）無需樣品旋轉，即可測量主軸和延遲軸的線性雙折射系數、圓周雙折射系數的旋轉角；
3）一秒采樣時間；
4）可選樣品旋轉臺；
5）二維或三維顯示 雙折射系數的線性解析度高達 0.01nm ；
6）可全自動操作；

應用：
1）液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射分布 ；
2）液晶顯示屏 (TN, STN) 的雙折射系數與電壓的關系；
3）電－光學器件 ( 如： Pockel 效應、 Faraday 旋轉、 Kerr 旋轉等 ) ；
4）光學晶體研究；
5）聚合物膜研究；

全自動雙折射測量系統 ABR-30( 超高速型 ) 特點：
1）可以實現雙折射系數的高速測量： 100 微秒；
2）維護成本低；
3）二維或三維顯示；
4）可選樣品旋轉臺；
5）操作方便；

應用：
1）在靜態和高速旋轉速度下進行光學儲存器件表征；
2）動態雙折射研究 ( 如液晶、高分子 ) ；
3）對某些透明材料的熱沖擊；
4）動態光彈性系數；
5）光學相位調制器；