公司簡介
成立于2015年6月份，于15年9月26日正式掛牌營業。成立以來快速成長于ROHS儀器行業中，公司是由多年行業銷售經驗和技術服務經驗的團隊組成。目前我司主營業務為島津EDX和NDI產品線銷售；我們的目標是成為島津在華南區最專業的EDX代理商；我們將不斷完善和強化自己的經營能力，全力投入ROHS儀器市場的開拓。以管理科學化、服務專業化、經營網絡化為經營理念，力創新時代新興的綠色環保服務品牌。擁有各原廠培訓認證的專業產品工程師團隊，以確保優質的售后服務。我們專注于根據企業在檢測儀器投入方面所遇到的問題量身制作解決方案，贏得了廣大的的商業合作伙伴的好評，我們提供儀器的銷售，實驗室一站式建構，儀器中短期租賃，以租變購，二手儀器回收等服務項目。我司致力于開創綠色環保循環經濟時代，為企業提供更為貼心的一站式服務，也能為企業對檢測儀器設備投資資金壓力提供全面解決方案。
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產品說明
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EDX-GP是適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。
一次使用，也能輕松操作，操作簡便且以更高的精度進行微量分析，達到zui高靈敏度與分辨率的結合。
標準配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，使可以獲得RoHS/ELV/無鹵素分析系統
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操作簡便，一個指令即可開始全自動測定。
測定條件的選擇過去一直依賴操作者的判斷，現在改由裝置自動判斷，即使初學者也可簡便·高精度地測定。
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將樣品放在分析位置，利用樣品圖像觀察裝置確認分析位置。 |
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選擇分析區域。 |
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關閉樣品室。 |
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一個畫面中可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。 |
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點擊開始。 |
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測定結束后，畫面上將清楚顯示5種元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（測定偏差）］。 |
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點擊即可顯示［結果列表］或［創建報告書］。 |
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只需1次點擊，便可根據預先登錄的分析條件，
自動執行從測定到結果的一系列操作。
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| 不含有害元素時，測定過程中能夠判定結果時，即自動終止測定，縮短分析時間。 |
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不含有害元素時
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| 不含有害元素時，測定過程中能夠判定結果時，即自動終止測定，縮短分析時間。 |
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含量低于檢出下限值時，判斷不含有，測定自動結束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低于檢出下限，與設定的200秒（=100秒＋100秒）分析時間相比，僅用了50秒（=25秒＋25秒）即結束分析，大幅度節約了時間。
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| 有害元素含量高時 |
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由設定的目標管理精度自動決定測定時間。
在測定精度達到管理值時結束測定。
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| ■ 適用省時功能的縮短時間示例 |
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測定高濃度元素時，在比設定的測定時間更短的時間內即可獲得高強度，而且誤差變小，由此可以大幅縮短時間。上述樣品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,設定的分析時間為200秒（=100秒＋100秒），實際僅用了40秒（=15秒＋25秒）即結束分析，大幅度節約了時間。
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| 本裝置配置了RoHS/ELV檢測中市場占有率zui高的EDX－720型的半導體檢測器、專用濾光片及高計數率電路。 |
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| 為什么需要高靈敏度？ |
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| 能夠測定更微量的元素。 測定時間更短，因此相同時間內測定數量更多。 |
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| 為什么需要高分辨率？ |
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| 可以減輕目標元素附近的其他共存元素的重疊影響。 |
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| 為什么需要高精度？ |
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在IEC提出的合格判定中，分析裝置的重現性對判定結果有很大的影響，重現性越好（即測定精度越高），合格判定的準確度就越高。
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利用專用濾光片提高靈敏度／還可以進行高靈敏度的無鹵素分析
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標準配備了5種濾光片，可降低、除去形成背景成分的X射線管的散射線，提高檢測靈敏度。
本裝置在RoHS/ELV/無鹵素分析中會自動選擇3種合適的濾光片，進行高靈敏度測定。 |
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| 受X射線管Rh的特征X射線影響的Cl也可以測定 |
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| 微量成分：Cl（除去特征X射線） |
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利用濾光片提高檢測靈敏度
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微量成分：Pb（背景降低）
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濾光片條件靈活，滿足客戶要求
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| 如果您希望在短時間內對多個樣品進行測定，推薦使用單個濾光片進行高速分析。 |
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如果您希望對微量元素進行高靈敏測定，可以選擇各種專用濾光片進行高靈敏度分析。
與單個濾光片高速分析相比，靈敏度約提高2～3倍。
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<由專用濾光片進行高靈敏度分析>
測定時間：300秒（100秒×3通道）
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| EDX-GP標準配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，就可以獲得RoHS/ELV/無鹵素分析系統。 |
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| 標準配置改變照射直徑的準直器＆樣品圖像觀察組件 |
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測定異物或者測定包含多個部位的樣品時，通過樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時，可以簡單的設定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時，可以使用準直器，更改X射線照射區域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）
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形狀校正功能
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即使含量相同的樣品，在形狀和厚度不同時，X射線強度將發生變化，得到的定量值也會受到影響，EDX-GP通過使用BG內標法*，可以排除形狀和厚度的影響，取得高精度結果。
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BG內標法
通過散射X射線強度使各元素的X射線熒光強度標準化的一種校正方法。 |
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| 測定結果列表管理 |
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| 創建列表功能 |
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| 已保存數據可以用Excel形式列表顯示。 |
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本頁產品地址：http://www.lgsztm.com/sell/show-172668.html
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