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高電流電化學工作站 型號;DP-CS1350

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  • 更新日期:2019-01-09 13:40
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詳細介紹

高電流電化學工作站     型號;DP-CS1350

CS系列電化學工作站由高速MCUFET集成電路組成,內置DDS數字信號合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關分析器和雙通道高速16bit /24bit AD轉換器。能完成線性掃描伏安(LSV)、循環伏安(CV)、階梯波循環伏安(SCV)、方波循環伏安(SWV)、差分脈沖伏安(DPV)和常規脈沖伏安(NPV)以及差分常規脈沖伏安(DNPV)等電分析方法;還可以完成恒電流(位)化、動電位(流)掃描、任意恒電流(位)方波,多恒電流(位)階躍、零電阻電流計、電化學噪聲(電偶電流)、電化學阻抗(EIS)等電化學測試等功能,所有測量功能均可定時自動進行,用于無人值守下的自動測量。
    CS
系列包括多種型號,可用于較大電流和較高槽壓的電化學測量和應用,例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±,槽壓為±21V。電壓控制范圍:±10V;電流控制范圍:±5.0A;電流測量下限為10pA
    CorrTest
TM 測試軟件是CS電化學工作站的控制平臺,軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統,并遵守Windows軟件設計規則,易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實驗方法管理、多坐標圖形顯示和縮放、數據/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面,命令窗口所用的詞匯與通用的電化學術語保持一致,全中文菜單和界面,方便用戶的教學和科研工作。
    CorrTest
TM 測試軟件還具有特別針對材料和腐蝕電化學的實驗方法,包括鈍化曲線自動或人工反掃,電化學再活化法,溶液電阻(IR降)測量和補償法。CorrtestTM 分析軟件則具有完善的數據分析功能,可對伏安曲線進行數字平滑、積分、微分運算,能對化曲線進行電化學參數解析,包括化電阻RpTafel斜率babc,腐蝕電流密度icorr,腐蝕速率計算等,還可計算噪聲電阻Rn和功率譜,并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
    CS
系列電化學工作站全部采用USB2.0接口與計算機通訊,設備安裝簡單,即插即用。
    
外形尺寸:36.5cm()*30.5cm()*16cm()     儀器重量:6.5Kg
應用領域

    1) 
研究電化學機理;物質的定性定量分析;  
    2) 
常規電化學測試,包括電合成、電沉積(電鍍)性能評價;

    3) 
功能和能源材料(電池、超級電容器、納米材料、生物傳感器等)的機理和制備研究;
    4) 
緩蝕劑、水質穩定劑、涂層以及陰保護效率快速評價以及氫滲測試等;
    5) 
金屬材料在導電性介質(包括水/混凝土/土壤等環境)中的腐蝕電化學測試。
儀器配置

    1) 
儀器主機1                                2) CorrTest測試與分析軟件1
    3) 
專用電解池(含鹽橋和排氣管)1              4) 鉑金電、參比電、工作電各1         
    5) 
模擬電解池1                              6) 電源線/USB數據線各1

    7) 
電電纜線1                              8) 電架 (選配*)
    9) 
屏蔽箱 (選配
*)
技術指標與功能方
                            
                               硬件參數指標
 

  恒電位電位控制范圍:±10V

  恒電流控制范圍:±5.0A

  電位控制精度:0.1%×滿量程讀數±1mV 

  電流控制精度:0.1%×滿量程讀數

  電位靈敏度:10mV(>100Hz), 3mV(<10Hz)

  電流靈敏度:<10pA

  電位上升時間:<1mS(<10mA),
                <10
mS(<2A),<20mS(>2A)

  電流量程:2A200nA, 8

  參比電輸入阻抗:1012 W||20pF

  zui大輸出電流:5.0A

  槽壓:±15V

  電流掃描增量:1mA @1A/mS

  CV LSV掃描速度:0.01mV10000V/s

  電位掃描時電位增量:0.1mV @1V/mS

  CACC脈沖寬度:0.000165000s

  DPVNPV脈沖寬度:0.00011000s

  SWV頻率:0.001100KHz

  CV的zui小電位增量:0.075mV

  AD數據采集:16bit@1MHz20bit@1kHz, 

  電流與電位量程:自動設置

  DA分辨率:16bit,建立時間:1mS

  低通濾波器 8段可編程

  接口通訊模式:USB2.0

 


 

                           電化學阻抗測量指標 

  信號發生器

 

  頻率響應:10mHz115KHz(CS1310/CS1350)
            10
mHz1MHz(CS1360) 

  交流信號幅值:0mV2500mV

  直流偏壓:-10+10V

  DDS輸出阻抗:50W

  波形:正弦波,三角波,方波

  正弦波失真:<1%

  掃描方式:對數/線性,增加/下降

  zui大負載電容:1nF;zui大負載電感:10mH

  信號分析器

 

  積分時間:zui大值:106個循環或者105S

  測量時間延遲:0105

  zui小值:10mS 或者一個循環的zui長時間

 

  直流偏置補償

 

  電位自動補償范圍:-10V+10V

  電流補償范圍:-1A+1A

  帶寬調整:自動或手動設置8級可調

 


 

                          CS系列儀器不同型號功能比較

功  能  方  法

CS1120

CS1150

CS1300

CS1310

CS1350

CS1360




 

  開路電位測量(OCP

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  恒電位化

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  恒電流化

 

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  動電位掃描(DPP

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  動電流掃描(DGP

 

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  任意恒電位方波

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  任意恒電流方波

 

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  多電位階躍(VSTEP

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  多電流階躍(ISTEP

 

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  快速電位脈沖

 

 

 

 

 

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  快速電流脈沖

 

 

 

 

 

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  計時電位法(CP

 

 

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  計時電流法(CA

 

 

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  計時電量法(CC

 

 

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  線性掃描伏安法(LSV

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  循環伏安法(CV

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  階梯伏安法(SCV

 

 

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  差分脈沖伏安法(DPV

 

 

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  常規脈沖伏安法(NPV

 

 

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  方波伏安法(SWV

 

 

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  交流伏安法(ACV

 

 

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  常規差分脈沖伏安法(DNPV

 

 

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  二次諧波交流伏安 (SHACV)

 

 

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  恒電位溶出伏安

 

 

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  線性溶出伏安

 

 

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  階梯溶出伏安

 

 

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  方波溶出伏安

 

 

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  交流溶出伏安

 

 

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  電化學阻抗(EIS)~頻率掃描

 

 

 

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  電化學阻抗(EIS)~時間掃描

 

 

 

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  電化學阻抗(EIS)~電位掃描

 

 

 

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  循環化曲線(CPP

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  線性化曲線(LPR

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  電化學噪聲 (EN)

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  電偶腐蝕測量 (ZRA)

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  氫擴散測試(HDT

 

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  電池充放電測試

 

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  恒電流充放電

 

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  恒電流間歇充放電

 

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  盤環電測試

 

 

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  數字記錄儀

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  波形發生器

 

 

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  圓盤電機控制

 

 

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    注:氫滲透測試中主動式充氫需要另行配置CS1001A恒流源使用或采用CS2350雙恒電位儀。

 
 
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