低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀 型號:MCP-T370
四探針方案-一觸式的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認自動測量功能，可自動保持當前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準模式。檢查探頭校準片（另售），以確認Roresuta AX測試值的準確性。
測量數據可以導出到USB存儲器。
查找只需按下啟動按鈕，確認自動測量功能，可自動保持當前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準模式。檢查探頭校準片（另售），以確認Roresuta AX測試值的準確性。
測量數據可以導出到USB存儲器。
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規格
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測量方法
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四端四探針法
施加恒定電流的方法 |
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測量范圍
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10 -2?10 6 Ω
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標準配置
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四探針探頭（ASP）AC適配器 說明書 檢查確認書
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選項
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探頭選項
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類型
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適用被測試樣品
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型號
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ESP
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對于異類樣本
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MCP - TP08P
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PSP
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小樣本的薄膜
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MCP - TP06P
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QPP
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對于小樣本
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MCP - TPQPP
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TFP
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有關硅晶片或玻璃基板薄膜
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MCP - TFP
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校準塊
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型號：MCP - TRF1
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