光耦參數測試儀型號：JFY3010A
JFY3010A光耦參數測試儀詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種專門用于各種電子元件參數測試的多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。
※ 測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數:
參數指標表:
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參數項 |
測試參數 |
測試條件設置 |
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輸入正向壓降(VF) |
0-2.000V |
0-400MA |
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耐壓(BVCEO) |
0-1200V |
0-2.000MA |
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傳輸比(CTR) |
0-3000 |
VCE:0-20V IC:0-2.000A |
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飽和壓降(Vsat) |
0-2.000V |
IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 輸出漏電流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 輸入反向漏電流(IR) | 0-1mA |
VR=4V |
