涂層測厚儀TT230一、產品概述:本儀器是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量。可

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涂層測厚儀TT230

一、產品概述:

本儀器是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。
本儀器符合以下標準：
GB/T4957─1985非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法
JB/T 8393─1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 818─93《電渦流式測厚儀》

二、功能特點:

本儀器采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層）
可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正；
具有兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
設有五個統計量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、
測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）；
具有米、英制轉換功能；
具有打印功能，可打印測量值、統計值；
具有欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示功能；
具有自動關機功能。

三、技術參數:

測頭類型		N
測量原理		電渦流
測量范圍		0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力		1µm(10um以下為0.1um)
探頭連接方式		一體化
示值誤差	一點校準(um)	±[3%H+1.5]
	兩點校準(um)	±[（1%~3%）H+1.5]
測量條件	zui小曲率半徑(mm)	凸3凹10
	基體zui小面積的直徑(mm)	ф5
	zui小臨界厚度(mm)	0.3
溫濕度		0~40℃  20%RH～90%RH
統計功能		平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、 測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式		連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
上下限設置		無
存儲能力		15個測量值
打印/連接計算機		可選配打印機/不能連接電腦
關機方式		自動
電源		二節3.6V鎳鎘電池
外形尺寸		150×55.5×23mm
重量		150g

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