X熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)

優(yōu)點(diǎn):

1、分析速度高。測定用時(shí)與測定度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。

3、非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

5、分析度高。

6、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

缺點(diǎn)：

1、難于作分析，故定量分析需要標(biāo)樣。

2、對輕元素的靈敏度要低一些。

3、容易受相互元素干擾和疊加峰影響。

X熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。