X熒光光譜儀的原理

X熒光光譜儀的構(gòu)成

1. 入射狹縫 : 在入射光的照射下形成光譜儀 成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

2. 準(zhǔn)直元件 : 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件 : 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長分散成為多條光束。

4. 聚焦元件 : 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長。

5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測器陣列可以是 CCD 陣列或其它種類的光探測器陣列。

8）自動(dòng)待機(jī)：非傳統(tǒng)的屏幕待機(jī)，內(nèi)置運(yùn)動(dòng)感應(yīng)器和射線管待機(jī)管理程序可在不使用時(shí)自動(dòng)待機(jī)，拿起時(shí)迅速恢復(fù)工作。從而可減少關(guān)機(jī)次數(shù)并延長射線管使用壽命。

X熒光光譜儀性能特點(diǎn)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率

X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

RoHS檢測分析
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定

，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測