天瑞鍍層測厚儀thick800A儀器性能及技術參數

如需詳細了解或測樣比對請聯系，天瑞儀器 李經理 ：

型號：800a

原理：X射線熒光光譜儀

生產廠商：skyray

天瑞800A鍍層測厚儀

性能特點：

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

?

詳細配置信息：

硬件：主機壹臺，含下列主要部件：

(1) X光管 (2) Si-PIN電制冷半導體探測器

(3) 信號檢測電子電路 (4) 二維移動平臺

(5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源

(7) 開放式樣品腔 (8）雙激光定位裝置

(9) 鉛玻璃屏蔽罩

軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

技術指標：

1.1 分析元素范圍：K-U

1.2 同時可分析多達5層鍍層

1.3 分析厚度檢出限高達0.005μm

1.4 定位精度：0.1mm

1.5 測量時間：5s-300s

1.6 計數率：0-8000cps

1.7 Z軸升降范圍：0-140mm

1.8 X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)

工作環境要求：

2.1 環境溫度要求：15℃-30℃

2.2 環境相對濕度：<70%

2.3 工作電源：交流220±5V

2.4 周圍不能有強電磁干擾。

天瑞800A鍍層測厚儀

?