儀器簡介：

X’Pert PRO X射線衍射儀是全新概念的預校準光路全模塊化的X射線衍射儀可實現多種功能應用。不同光路系統及各種樣品臺等附件均可以在幾分鐘內實現高精度的更換。測角儀由于采用DOPS直接光學編碼器，直流馬達驅動，完全消除機械誤差，精度與穩定性大大提高。配備多種新型光路及樣品臺模塊：入射光有可編程發散狹縫、Mirror鏡(平行光)、Lens鏡（多毛細管透鏡）、Monocapillary(單毛細管透鏡）、 Hybird ( 平行光單色器）提高光源的利用效率；衍射光路有可編程防反射狹縫、可編程接收狹縫、X’celerator 探測器（新型高效能探測器〕、固體探測器、位敏探測器可選；樣品臺有微區、非環境、毛細管旋轉等樣品臺。通過配置不同的光學模塊和樣品臺，可滿足由普通相分析到薄膜測定，高分辨分析，微區測定，應力，織構，非環境下動態研究，微量相測定等不同領域要求。
根據Benson Hart小角相機設計的小角散射附件使廣角衍射儀可以實現納米材料的粒度測定，符合國家標準納米粉末粒度分布的測定X射線小角散射法 （GB/T 13221-2004）和ISO/TS 13762:2001 速度快重現性好。

技術參數：
 

1.測角儀精度：0.0001度
2.測角儀重現性：0.0001度