摘要：平面平晶利用光線的干涉原理在波的傳播過程中進行的介紹，希望能夠幫助大家。
  、平面平晶原理：
  平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測量高光潔表面的平面度誤差，為用平面平晶檢驗量塊測量面的平面度誤差。平行平晶的兩個光學測量平面是相互平行的，用于測量兩高光潔表面的平行度誤差，例如千分尺兩測量面的平行度誤差.平晶用光學玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45～150毫米。其光學測量平面的平面度誤差為:1級精度的為0.03～0.05微米；2級精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
  簡單的說就是：光在平晶表面反射和被測表面反射回來的光線形成干涉現象。由于被測表面平面度的影響，干涉光線的光程差不同，因此形成干涉條紋。通過測量干涉條紋的彎曲量并計算可得被測樣品的平面度。 
  
  利用光線的干涉原理，在波的傳播過程中，介質中質點的振動雖頻率相同，但步調不一致，在波的傳播方向上相距△x=（n=0，1，2，…）兩個質點的振動步調一致，為同相點；相距（n=0，1，2，…）的兩個質點的振動步調相反，為反相點。波源S1、S2產生兩列波在同一介質中傳播，介質中各質點同時參與兩個振源引起的振動。質點的振動為這兩個振動的矢量和，介質中的P點，如圖離兩波源距離分別是S1P、S2P，若S1、S2是同步振動，那么它們對P引起的振動的步調差別完全由距離差△s=S1P－S2P決定。當△s=（n=0，1，2，…），即距離差為波長的整數倍時，兩波源在P點引起的振動的步調一致，為同相振動，疊加結果是兩數值之和，即振動加強，是強點；當（n=0，1，2，…），即距離差為半波長的奇數倍時，兩振源在P點引起的振動的步調相反，為反相振動，疊加結果是兩數值之差，即振動減弱，是弱點；由此看來，強點與弱點只與位置有關，不隨時間變化。 
 
  第二、平面平晶測量：
  測量時，先使平晶邊緣輕輕地與被測表面接觸，逐漸使整個表面接觸，再調整平晶使與被測表面之間保持一微小夾角，直到出現清晰的干涉條紋為止。如干涉條紋很密而調整平晶位置又不能使干涉條紋的間距加寬，則說明被測表面或平晶上有微塵或其他雜物，應清洗。