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產品詳情

導電型號測試儀

  • 產品/服務:導電型號測試儀
  • 品 牌:恒奧德
  • 單 價:面議 
  • 更新日期:2024-04-22
  • 有效期至:長期有效
  • 瀏覽次數:1705
產品簡介

導電型號測試儀/PN測試儀/硅料PN鑒別儀 型號:KDK-STY-3 產品簡介 KDK-STY-...

產品詳細介紹

1.導電型號測試儀/PN測試儀/硅料PN鑒別儀 型號:KDK-STY-3

產品簡介
   KDK-STY-3型導電型號測試儀是嚴格按照標GB/T1550-1997和ASTM  F42(非本征半導體村料導電類型的標準測試方法)中的熱探針及整流導電類型測試方法設計的導電類型鑒別儀。
本儀器熱探筆內裝有加熱和控溫組件,自動加熱并使溫度維持在50?60℃范圍內,冷熱探筆在半導體材料上產生的熱電動勢及整流法產生的電勢差經低噪聲、低漂移的集成運算放大器放大后,用液晶顯示器件(LCD)及檢流計示型號方向。儀器靈敏度分、低兩檔,可判別大分非本征半導體材料型號(從阻單晶到重摻單晶)。
二、術性能
1、可判別鍺、硅著料的電阻率范圍:
鍺:非本征鍺103~10?4Ω·cm
硅:10+4~10-4Ω·cm
經外實驗證明:在室溫情況下,熱電法對于電阻率低于1000Ω·cm的硅單晶整流法結果。
2、鍺、硅單晶直徑及長度:不受限制
3、顯示方式:由顯示N和P的液晶器件直接示,同時中心刻度為零位檢流計也在示型號,針向左偏轉被測樣品為N型,針向右偏轉被測樣品為P型。
5、探針:用ASTM F42標準中建議的不銹鋼作冷熱探針材料,針尖為60℃錐體,熱筆溫度自動保持在50?60℃范圍內,冷筆與室溫相同。整流法行選用硬質合金作探針。
6、電源及耗:AC 220V±10%,50HZ交流供電,zui大耗(熱筆加熱狀態)小于40W,平均耗≈10W。
7、外型尺寸:370×320×110(mm)
8、重量:約 4 kg












2.多能數字式四探針測試儀/方塊電阻檢測儀/四探針電阻率儀型號: JG-ST2258A

概述
JG-ST2258A型多能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。
本測試儀特贈設測試結果分類能,zui大分類10類
儀器所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校能;自動轉換量程;測試探頭采用寶石導向軸套和耐磨碳化鎢探針制成,故定位、游移率小、壽命長;測試結果由數字表頭直接顯示。
基本術參數
1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 1.0×10-3 ~ 200.0×103 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103 Ω
電 阻 率: 10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103 Ω-cm
方塊電阻: 10.0×10-3 ~ 20.0×103 Ω/□ 分辨率1.0×10-3 ~ 0.1×103 Ω/□
2. 可測半導體材料尺寸
直 徑: 測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
長(或)度: 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等
量程 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
誤差 ±0.5%FSB±1LSB(在各量程范圍內),超量程或欠量程可測量,但誤差將隨超欠程度而變大

4) 作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5) 外形尺寸:W×H×L=20cm×7.5cm×18cm
凈 重:≤1kg









3.
數字式四探針測試儀/四探針電阻率檢測儀/方阻儀型號:JGST-2253

JGST-2253 型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量半導體材料的電阻率,測量擴散層的薄層電阻(亦稱方阻)。換上特制的四探針測試夾具,還可以對金屬導體的低、中值電阻行測量。
儀器由主機、測試探頭(可選配測試臺)等分組成,測試結果由主機數碼管直接顯示。也可連接PC機由配套軟件在PC機上操作,其數據可由軟件顯示、分析、保存和打??!
主機主要由恒流源,分辨率 ADC、嵌入式單片機系統組成,自動轉換量程。測試探頭采用寶石導向軸套和耐磨碳化鎢探針制成,故定位、游移率小、壽命長。儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、智能化程度、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別適用于要求快速測量中低電阻率的場合。
三、基本術參數
3.1測量范圍
電 阻率: 10-4~105Ω-cm
方塊電阻: 10-3~106Ω/□
電  阻:10-4~105Ω
3.2可測半導體材料尺寸
直 徑: Φ15~100mm, 長(或)度: ≤400mm
2.3測量方位:
軸向、徑向均可
2.4. 4 1/2 位數字電壓表:
⑴量程: 200mV
⑵誤差:±0.1%讀數±2 字
2.5數控恒流源
⑴電流輸出:直流電流 0~100mA 連續可調,由交流電源供電。
⑵量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA
⑶誤差:±0.5%讀數±2 字
2.6四探針測試探頭
⑴探針間距 1mm
(2)探針壓力: 0~2kg 可調,zui大壓力約 2kg
(3)探針:碳化鎢,Φ0.5mm
2.7.電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗:<20W
2.8.外形尺寸:
主機 260mm(長)×210 mm(寬)×125mm()



北京恒奧德儀器儀表有限公司

溫馨提示:以上產品資料和圖片都是按照順序相對應的





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