
二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器。...
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測量范圍 |
電阻率:10-5~105 Ω.cm; |
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恒流源 |
電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔,各檔電流連續可調 |
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數字電壓表 |
量程及表示形式:000.00~199.99mV; |
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二探針探頭基本指標 |
間距:3mm(可選其它間距); |
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二探針探頭應用參數 |
(見探頭附帶的合格證) |
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模擬電阻測量相對誤差 |
0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
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測試架 |
配置T-2A測試架,兩端電Ф8mm~20mm(可選其他尺寸訂做) |
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計算機通訊接口 |
并口 |
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標準使用環境 |
溫度:23±2℃; |
是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的,專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器。
儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
二探針測試儀 儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。 本儀器適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。

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