原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光，后接受信號經(jīng)過計(jì)算機(jī)系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。  
產(chǎn)品特點(diǎn)：
計(jì)算機(jī)全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。  
步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖－－樣品逼近，保證實(shí)驗(yàn)圓滿成功。  
深度陡度測量，三維顯示。  
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計(jì)。  
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域．  
標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口,無需任何計(jì)算機(jī)卡  
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。  
掃描速度達(dá)40000點(diǎn)/秒  
可選配納米刻蝕功能模塊。  
技術(shù)指標(biāo):  
AFM探頭  
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。  
XYzui大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)6X6微米  
0.25nm  
0.03nm(云母定標(biāo))  
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米  
掃描器、針尖座智能識別  
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)  
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）  
全金屬屏蔽防震隔音箱/隔震平臺（選購）